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ニデックアドバンステクノロジーの半導体検査装置

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13 点の製品

ニデックアドバンステクノロジー株式会社

自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-2300 FC-BGA/個片用

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高速高精度‐ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動個片基板検査装置 BGA-MCM個片パッケージの高速検査に最適。8ステーションのロー...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-6310

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多面付けCSP基板 導通・短絡 (絶縁) 検査システム 0.6sec/ピースの超高速検査を実現。ファインピッチ&極薄FC-CSP基板の検査に最適な高...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7512 ICS/メモリ基板用

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高速高精度シャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動基板検査装置 多面付け基板 (CCM/Memory用途/ICS/CSP等) パターンの導通・短絡 ...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7755 ICS/SLP用

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高速高精度シャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動基板検査装置 多面付け基板 (SLP/ICS/MCM/MCP/CSP等) パターンの導通・短絡 (絶...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 アドバンスドパッケージ対応導通絶縁検査装置 GATS-7760 (シートタイプ)

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■特徴 ・FC-CSP/大型個片基板向け高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・ダブルテーブル/シャトル式 ・ LULはご要...


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半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 アドバンスドパッケージ対応導通絶縁検査装置 GATS-7760 (ユニットタイプ)

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■特徴 ・FC-CSP/大型個片基板向け高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・ダブルテーブル/シャトル式 ・ LULはご要...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 アドバンスドパッケージ対応導通絶縁検査装置 GATS-7836

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■特徴 ・大型個片/クォーターパネル高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・多様なオートメーション要求に対応 ・L...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7861 FC-BGA/パネル用

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高速高精度‐上/下デュアルシャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動パネル基板検査装置 FC-BGA多面付け基板をデュアルシャトルで効...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 アドバンスドパッケージ対応導通絶縁検査装置 GATS-7862

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■特徴 ・ハーフ/クオーターパネル向け高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・多様なオートメーション要求に対応 ...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

車載部品検査装置 パワー半導体モジュール検査装置 IGBT/SiC モジュール検査用 NATS-1000

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■車載パワー半導体 (IGBT,SiC) モジュール絶縁静特性動特性検査装置 「NATS-1000」は車載向けモジュールの高低温温度試験、並びにインラ...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

IGBT/SiC パワーモジュール動特性手動検査装置 NATS-1630

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ワイドバンドギャップな計測技術。絶縁用、静特性用検査装置も構築可能。 ■データトレーサビリティ 外部PCやcloud等の上位データ管理シ...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

IGBT/SiC パワーモジュール動特性手動検査装置 NATS-1730

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最新の閲覧: 22時間前

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ワイドバンドギャップな計測技術。絶縁用、静特性用検査装置も構築可能。 ■データトレーサビリティ 外部PCやcloud等の上位データ管理シ...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

AC/DC MULTI TESTER R-700シリーズ

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薄膜RFフィルタ/車載DCモジュール/加速度センサ/MEMSデバイスなどあらゆる製品を検査可能 ■特徴 ・超高絶縁 ・最大検査ポイント 512ピ...


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