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エイチ・ティー・エルの半導体検査装置

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5 点の製品

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株式会社エイチ・ティー・エル

フォトマスク検査装置 欠陥検査装置 Dione-CIS

最新の閲覧: 10時間前

半導体用フォトマスク上にあるパターンの欠陥、異物検査を高速、高精度で行う欠陥検査装置 ■特長 ・高速、高分解能でDie to Database、...


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株式会社エイチ・ティー・エル

フォトマスク検査装置 欠陥検査装置 Gemini

最新の閲覧: 11時間前

AM-OLED用高精度大型フォトマスク・ハーフトーンマスク対応の最新モデル ■特長 ・高速、高分解能、Die to Database、Die to Die検査 ・...


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株式会社エイチ・ティー・エル

フォトマスク検査装置 精密座標測定装置 Mercury

最新の閲覧: 3時間前

FPD用フォトマスクの線幅、開口径、Total pitchや座標位置などの寸法を自動測定 ■特長 ・高位置決め精度、高平坦度を誇るエアスライダ...


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株式会社エイチ・ティー・エル

フォトマスク検査装置 精密座標測定機 PMARS-CRGS

最新の閲覧: 20時間前

半導体用フォトマスク上にあるパターンの位置を高精度に測定する精密座標測定機。 ■特長 ・高剛性な顕微鏡システムを搭載し、ドリフト...


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株式会社エイチ・ティー・エル

フォトマスク検査装置 微小寸法測定装置 Venus

最新の閲覧: 4時間前

FPD用フォトマスクのCD (パターン寸法) を正確に測定。 ■特長 ・長期安定性と防振性に優れた高精度XYステージとリニアスケールによる正...


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