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株式会社オーエステック
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単結晶の Wafer 及び Ingot の結晶方位検査を目的別に行う検査装置です。その為、二つの作業台 (Wafer 面測定・オリフラ面測定・ノッチ方位測定 /Ingot 端面)...
株式会社オーエステック
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■装置性能 ・この装置の主は単結晶材料の表面欠陥を測定する半自動測定装置です。SCM システムで採集したデータはコンピュータの分析システムでデートを処理...
株式会社オーエステック
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SCO-c 1~5 秒で判別 LED 標示。高速・簡単操作にこだわりました。 ■簡単操作 Si ウエハー ( ノッチ ) をテーブルにセット、測定開始ボタンを押す。 ■高速 1...
オーエステックの半導体検査装置3製品中の注目ランキング
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