産業用製品メーカー比較 | Metoree
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有限会社高度技術研究所の半導体検査装置2製品が登録されています。 高度技術研究所のその他の取扱カテゴリーには、基板検査装置・光学顕微鏡・工業用顕微鏡などがあります。
2 点の製品がみつかりました
有限会社高度技術研究所
最新の閲覧: 33分前
独創技術「画像フーリエ変換 (FFT) 差分法」採用の新鋭機 ■シンプルで高性能 独創の画像処理法と独自の黑明·画像撮り込み法を用いた検査システムの構築によ...
検査装置
半導体検査装置
最新の閲覧: 1日前
独創技術「画像フーリェ変換 (FFT) 差分法」採用の新鋭機を開発しました ■本装置の特徴 ・独創的な画像フーリエ変換差分法技術を開発することにより、大容量...
高度技術研究所の半導体検査装置の全般についてのお問い合わせはこちら
直線移動型ICハンドラ
株式会社エーアイテック
240人以上が見ています
最新の閲覧: 4日前
2種類の商品があります
ターンテーブル型ICハンドラ
300人以上が見ています
最新の閲覧: 2日前
4種類の商品があります
インライン型検査機
150人以上が見ています
低温・高温連続基板搬送炉型
280人以上が見ています
フォトマスクフィルムの欠陥を確実に検出 AIS-928シリーズ フィルム検査機 AIS-928D
シライ電子工業株式会社
60人以上が見ています
最新の閲覧: 20時間前
検査測定装置 半導体・電子部品 2D/3D検査ユニット
株式会社安永
100人以上が見ています
最新の閲覧: 1時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200i
90人以上が見ています
最新の閲覧: 2時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200D/CI300D
自動検査装置
株式会社エヌ.エフ.ティ
20人以上が見ています
最新の閲覧: 1週間前
半導体製造装置 貼合・剥離装置 TWH-SR-CCシリーズ 支持体機械剥離洗浄一貫装置
タツモ株式会社
X線結晶方向測定装置 DX-7BG
株式会社オーエステック
10人以上が見ています
ロッキングカーブ測定装置 DX-9BG
WAFER MVM-SEM® 次世代ウエハ対応の多次元観察・測長SEM E3310
株式会社アドバンテスト
最新の閲覧: 3日前
簡単操作でリアルタイムに欠点検出 カラーライン型欠点検査装置 LS-70JC
竹中システム機器株式会社
260人以上が見ています
印字検査装置 MC-20S
九州機電株式会社
50人以上が見ています
最新の閲覧: 15時間前
3種類の商品があります
空気圧漏れ検知器 Marksman II マークスマン2 (エア漏れ検知キット)
株式会社佐藤商事
スタンダード セミオート・プローバー HSP-300 (12 inch)
ハイソル株式会社
40人以上が見ています
レーザー傷検査装置 ANALYZER
ANALYZER株式会社
新型DuraPulse™ ステントグラフト試験 (SGT) 装置
ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン株式会社
230人以上が見ています
最新の閲覧: 4時間前
高分子 (Polymer) 超音波探触子 ポリマープローブ
株式会社KJTD
220人以上が見ています
最新の閲覧: 5日前
10種類の商品があります
バケット型回転ふるい機 MBスクリーンバケット
株式会社古垣建設
東京都環境局中小企業者向け「省エネ促進税制対象機器」導入推奨機器 省エネ照明シリーズ ライン 埋込型タイプ
株式会社ジェルシステム
レーザコリメーション光源
エーエルティー株式会社
最新の閲覧: 22分前
A/Eセンサ MN-801
株式会社メックス