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高度技術研究所の半導体検査装置

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有限会社高度技術研究所

プリント基板外観検査装置 FT型 Tiger Eye FT1-01

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独創技術「画像フーリエ変換 (FFT) 差分法」採用の新鋭機 ■シンプルで高性能 独創の画像処理法と独自の黑明·画像撮り込み法を用いた検査システムの構築によ...


有限会社高度技術研究所

プリント基板外観検査装置 FT型 Tiger Eye FT1-02

30人以上が見ています

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独創技術「画像フーリェ変換 (FFT) 差分法」採用の新鋭機を開発しました ■本装置の特徴 ・独創的な画像フーリエ変換差分法技術を開発することにより、大容量...


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