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YGKの半導体検査装置

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8 点の製品

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株式会社YGK

ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MN (セミオート)

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最新の閲覧: 15時間前

開発拠点に最適なシンプル装置。洗浄確認、クリーン環境確認に最適です。


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株式会社YGK

ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX

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最新の閲覧: 15時間前

量産ライン用スタンダード機。豊富なオプションの選択が可能です。プロセスモニターや洗浄確認に最適です。


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株式会社YGK

ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX FOUP

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最新の閲覧: 3時間前

FOUP対応300mmウエハ用装置 GEM300・E84対応可能です。


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株式会社YGK

ペリクルパーティクルスキャナ YPI-MX P

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最新の閲覧: 14時間前

ペリクル用検査装置。ペリクルの表裏面異物を高速に測定できます。


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株式会社YGK

ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF

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最新の閲覧: 16時間前

ダイシング (テープフレーム) ウエハの高感度異物測定。後工程の研究開発機として最適です。


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株式会社YGK

ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF FOUP

ダイシング (テープフレーム) ウエハの高感度異物測定。後工程の研究開発機として最適です。


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株式会社YGK

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX-DC

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最新の閲覧: 14時間前

SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置。SiCウエハでの高感度測定に。プロセスモニターや洗浄確認に最適です。


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株式会社YGK

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX-DC SMIF

最新の閲覧: 14時間前

SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置。SiCウエハでの高感度測定に。プロセスモニターや洗浄確認に最適です。


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