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YGKの半導体検査装置

8 点の製品がみつかりました

8 点の製品

株式会社YGK

ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MN (セミオート)

20人以上が見ています

最新の閲覧: 1日前

開発拠点に最適なシンプル装置。洗浄確認、クリーン環境確認に最適です。


株式会社YGK

ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX

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最新の閲覧: 1日前

量産ライン用スタンダード機。豊富なオプションの選択が可能です。プロセスモニターや洗浄確認に最適です。


株式会社YGK

ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX FOUP

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最新の閲覧: 4時間前

FOUP対応300mmウエハ用装置 GEM300・E84対応可能です。


株式会社YGK

ペリクルパーティクルスキャナ YPI-MX P

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ペリクル用検査装置。ペリクルの表裏面異物を高速に測定できます。


株式会社YGK

ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF

20人以上が見ています

最新の閲覧: 1日前

ダイシング (テープフレーム) ウエハの高感度異物測定。後工程の研究開発機として最適です。


株式会社YGK

ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF FOUP

20人以上が見ています

ダイシング (テープフレーム) ウエハの高感度異物測定。後工程の研究開発機として最適です。


株式会社YGK

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX-DC

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最新の閲覧: 17時間前

SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置。SiCウエハでの高感度測定に。プロセスモニターや洗浄確認に最適です。


株式会社YGK

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX-DC SMIF

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最新の閲覧: 37分前

SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置。SiCウエハでの高感度測定に。プロセスモニターや洗浄確認に最適です。


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