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YGKの半導体検査装置

14 点の製品がみつかりました

14 点の製品

株式会社YGK

ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX

60人以上が見ています

量産ライン用スタンダード機。豊富なオプションの選択が可能です。プロセスモニターや洗浄確認に最適です。


株式会社YGK

ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX (セミオート)

70人以上が見ています

豊富なオプションを揃えたセミオート機。洗浄確認に最適です。


株式会社YGK

ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX FOUP

70人以上が見ています

FOUP対応300mmウエハ用装置 GEM300・E84対応可能です。


株式会社YGK

ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MN (セミオート)

50人以上が見ています

開発拠点に最適なシンプル装置。洗浄確認、クリーン環境確認に最適です。


株式会社YGK

ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF

60人以上が見ています

最新の閲覧: 2時間前

ダイシング (テープフレーム) ウエハの高感度異物測定。後工程の研究開発機として最適です。


株式会社YGK

ダイシング (テープフレーム) ウエハ表面 パーティクルスキャナ YPI-MX TF FOUP

50人以上が見ています

最新の閲覧: 13時間前

ダイシング (テープフレーム) ウエハの高感度異物測定。後工程の研究開発機として最適です。


株式会社YGK

透明ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX

60人以上が見ています

透明・不透明ウエハ両方を測定。ガラス・石英・LT/LNなどの異物検査に最適です。


株式会社YGK

透明ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX (セミオート)

50人以上が見ています

透明・不透明ウエハ両方測定。豊富なオプションで高感度測定に対応可能です。


株式会社YGK

透明ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX FOUP

70人以上が見ています

FOUP対応300mmウエハ用装置。GEM300・E84対応可能です。


株式会社YGK

透明ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MN (セミオート)

50人以上が見ています

最新の閲覧: 12時間前

透明・不透明ウエハ両方測定。開発拠点に最適です。


株式会社YGK

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX-DC

60人以上が見ています

最新の閲覧: 3時間前

SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置。SiCウエハでの高感度測定に。プロセスモニターや洗浄確認に最適です。


株式会社YGK

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX-DC (セミオート)

50人以上が見ています

SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置。SiCウエハでの高感度測定に。研究開発や洗浄確認に最適です。


株式会社YGK

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX-DC SMIF

70人以上が見ています

最新の閲覧: 2時間前

SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置。SiCウエハでの高感度測定に。プロセスモニターや洗浄確認に最適です。


株式会社YGK

ペリクルパーティクルスキャナ YPI-MX P

60人以上が見ています

最新の閲覧: 1日前

ペリクル用検査装置。ペリクルの表裏面異物を高速に測定できます。




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