産業用製品メーカー比較 | Metoree
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1 点の製品がみつかりました
株式会社TOTOKU
280人以上が見ています
最新の閲覧: 19時間前
高周波IC計測治具はICの複数電極に直接コンタクトして、 計測機に直結出来る検査治具です。 IC以外にも測定対象物に合わせた高周波測定が可能です。
検査装置
プローブカード
半導体テスト用プリント配線板 プローブカード
OKIサーキットテクノロジー株式会社
360人以上が見ています
最新の閲覧: 4時間前
返答時間: 40.81時間
パラメトリックテスト用プローブカード
株式会社アポロウエーブ
20人以上が見ています
高周波測定用プローブカード
最新の閲覧: 3時間前
ハイパワー測定用プローブカード
微小電流測定用プローブカード
カンチレバープローブカード (エポキシタイプ)
検査装置『プローブカードアナライザ』
九州エレクトロン株式会社
140人以上が見ています
最新の閲覧: 1時間前
検査測定装置 ベアチップ CI8000
株式会社安永
110人以上が見ています
最新の閲覧: 9時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200i
最新の閲覧: 6時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200D/CI300D
120人以上が見ています
2種類の商品があります
ノンパターンウェーハのパーティクルを高感度で測定 ウェハー表面検査装置 WM-7S
入江株式会社
50人以上が見ています
ウェハー表面検査装置 WM-10
40人以上が見ています
測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ
株式会社中央電機計器製作所
230人以上が見ています
検査測定装置 半導体・電子部品 LI920S/LI900W
190人以上が見ています
ブライトライトウェハ表面検査装置 V2000
ハイソル株式会社
80人以上が見ています
チップ部品外観 (4面) 検査装置 OVS-6410
オカノ電機株式会社
60人以上が見ています
半導体ウェハ自動外観検査装置 CosmoFinder
三谷商事株式会社
370人以上が見ています
チップ外観検査装置
株式会社ピクリング
100人以上が見ています
RMH搭載バラtoトレイ 外観検査装置
株式会社ヒューブレイン
250人以上が見ています
