産業用製品メーカー比較 | Metoree
全てのカテゴリ
閲覧履歴
使用言語と地域を選択してください
日本語
日本
English
United States
Français
France
Español
España
Deutsch
Deutschland
대한민국
한국어
1 点の製品がみつかりました
マークテック株式会社
10人以上が見ています
最新の閲覧: 5分前
100.0% 返答率
63.0時間 平均返答時間
■特徴 ・最大450kV/15mAの高出力X線管を搭載 ・ファンビームCTにより低ノイズCT像を生成可能 ・コーンビームCTオプションにより高速CT撮影を実現 ・16bit ラ...
検査装置
CT検査装置
X線CTスキャニング FF85
TANIDA株式会社
270人以上が見ています
平均返答時間: 85.97時間
高速X線CTスキャナ CTH320/300μFPD
日本装置開発株式会社
290人以上が見ています
平均返答時間: 2.88時間
2種類の商品があります
高速X線CTスキャナ CTH150μFPD
430人以上が見ています
高速X線CTスキャナ CTH200FPD
280人以上が見ています
高速X線CTスキャナ CTV110μFPD
330人以上が見ています
マルチフォーカスX線透視CTシステム CCシリーズ
コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 コメット・エクスロン事業部
370人以上が見ています
最新の閲覧: 1時間前
平均返答時間: 75.48時間
X線透視・CTシステム UXシリーズ UX20
560人以上が見ています
3種類の商品があります
X線透視・CTシステム UXシリーズ UX50
390人以上が見ています
最新の閲覧: 8時間前
超高出力 ライナックX線CTシステム TXS950/3M/6M/9M Linatron
テスコ株式会社
4種類の商品があります
高出力450kV フォーカス X線CTシステム TXS450 Mini/Micro/Dual
最新の閲覧: 21時間前
高出力 マイクロフォーカス X線CTシステム TXS240/300 Micro
医療機器 CTシステム
株式会社メディプラン
100人以上が見ています
最新の閲覧: 20時間前
検査測定装置 ベアチップ CI8000
株式会社安永
検査測定装置 ベアチップ CI200i
130人以上が見ています
最新の閲覧: 2時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200D/CI300D
120人以上が見ています
最新の閲覧: 11分前
ノンパターンウェーハのパーティクルを高感度で測定 ウェハー表面検査装置 WM-7S
入江株式会社
40人以上が見ています
ウェハー表面検査装置 WM-10
測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ
株式会社中央電機計器製作所
230人以上が見ています
最新の閲覧: 17時間前
検査測定装置 半導体・電子部品 LI920S/LI900W
190人以上が見ています
最新の閲覧: 23時間前
ブライトライトウェハ表面検査装置 V2000
ハイソル株式会社
70人以上が見ています
チップ部品外観 (4面) 検査装置 OVS-6410
オカノ電機株式会社
50人以上が見ています
半導体ウェハ自動外観検査装置 CosmoFinder
三谷商事株式会社
360人以上が見ています
最新の閲覧: 3時間前
チップ外観検査装置
株式会社ピクリング
最新の閲覧: 11時間前
RMH搭載バラtoトレイ 外観検査装置
株式会社ヒューブレイン
250人以上が見ています