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ニデックアドバンステクノロジーの基板検査装置

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ニデックアドバンステクノロジー株式会社

光学式検査装置 半導体パッケージ用光学式自動検査装置 RSH-120

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次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置 次世代ICサブストレート基板の3Dバンプの高さと外観の同時検査等に対応 ■特徴 ・高速高精...


ニデックアドバンステクノロジー株式会社

光学式検査装置 半導体パッケージ用光学式自動検査装置 RSH-230

140人以上が見ています

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次世代ICサブストレート基板バンプ検査装置 超高速で基盤の反りを測定。次世代ICサブストレート基板の3Dバンプの高さと外観の同時検査...


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