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日本レーザーの基板検査装置

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株式会社日本レーザー

基板用 高速レーザー欠陥スキャナー ATシリーズ

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36.5時間 返答時間

Lumina Instrumentsの基板検査装置「ATシリーズ」は、透明、半透明、不透明な基板の全面欠陥検出、マッピング、および分類・レビューを行う光学検査システム...

2種類の品番


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