産業用製品メーカー比較 | Metoree
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2 点の製品がみつかりました
新電子株式会社
280人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
返信の早い企業
100.0% 返答率
9.7時間 平均返答時間
画像認識タイプのバッチ式外観検査装置です。 本装置は、カメラユニットがX,Z方向、テーブルがY方向に可動します。 ■主な特徴 ➀2台のカメラを搭載 上カメラ...
2種類の品番
検査装置
基板外観検査装置
組み付けチェック機 AI-1007
株式会社エーアイテック
260人以上が見ています
Edge インライン3D外観検査装置
株式会社ジュッツジャパン
200人以上が見ています
最新の閲覧: 3時間前
平均返答時間: 0.94時間
LI-6000 新ヴィジョンシステム
130人以上が見ています
LI-6000D 新ヴィジョンシステム
160人以上が見ています
LI-3000DP
180人以上が見ています
MI-3000
MI-3000H: FPC検査装置
190人以上が見ています
XI-2000
240人以上が見ています
MD-2000
最新の閲覧: 13分前
LD-3000
170人以上が見ています
最新の閲覧: 8分前
XD-2000
150人以上が見ています
最新の閲覧: 10分前
インライン型AOI DS2 series DS2-HC
シライ電子工業株式会社
70人以上が見ています
最新の閲覧: 6時間前
平均返答時間: 39.17時間
検査測定装置 ベアチップ CI8000
株式会社安永
100人以上が見ています
検査測定装置 ベアチップ CI200i
120人以上が見ています
最新の閲覧: 2時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200D/CI300D
110人以上が見ています
2種類の商品があります
WAFER MVM-SEM® 次世代ウエハ対応の多次元観察・測長SEM E3310
株式会社アドバンテスト
40人以上が見ています
最新の閲覧: 19時間前
ノンパターンウェーハのパーティクルを高感度で測定 ウェハー表面検査装置 WM-7S
入江株式会社
ウェハー表面検査装置 WM-10
30人以上が見ています
最新の閲覧: 18時間前
測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ
株式会社中央電機計器製作所
220人以上が見ています
検査測定装置 半導体・電子部品 LI920S/LI900W
最新の閲覧: 11時間前
ブライトライトウェハ表面検査装置 V2000
ハイソル株式会社
低温ICハンドラ
520人以上が見ています
最新の閲覧: 14時間前
直線移動型ICハンドラ
最新の閲覧: 20時間前