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株式会社ノイズ研究所
搭載電子機器に接続されたハーネスに強い電磁界ノイズが誘起した際の耐性を評価する試験システムです。シールドルームまたは電波暗室内で束ねられた線に対し...
株式会社ノイズ研究所
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搭載電子機器および接続されるハーネスが強い電磁界ノイズに曝された際の妨害耐性を評価する試験システムです。電波暗室内に供試品 (DUT) を設置し、さまざま...
株式会社ノイズ研究所
車載電子機器および接続されるハーネスが強い電磁界に曝された際の妨害耐性を評価する試験システムです。電波暗室内に供試品 (DUT) を設置し、さまざまなアン...
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