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日本バーンズの超音波顕微鏡

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6 点の製品

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日本バーンズ株式会社

高精度超音波顕微鏡 全自動ウエハー検査用超音波顕微鏡 AW300

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■シリーズ概要 超音波顕微鏡 C-SAM は、半導体パッケージや電子デバイス内部に介在する物理的欠陥を非破壊で観察することができます。 ...


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日本バーンズ株式会社

高精度超音波顕微鏡 世界最高峰・最新鋭C-SAMハイエンド機種 C-SAM CoreGen

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■シリーズ概要 超音波顕微鏡 C-SAM は、半導体パッケージや電子デバイス内部に介在する物理的欠陥を非破壊で観察することができます。 ...


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日本バーンズ株式会社

高精度超音波顕微鏡 最新鋭C-SAMスタンダード機種 C-SAM D9650

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■シリーズ概要 超音波顕微鏡 C-SAM は、半導体パッケージや電子デバイス内部に介在する物理的欠陥を非破壊で観察することができます。 ...


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日本バーンズ株式会社

高精度超音波顕微鏡 世界最高峰・最新鋭C-SAMハイエンド機種 C-SAM Gen7

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■シリーズ概要 超音波顕微鏡 C-SAM は、半導体パッケージや電子デバイス内部に介在する物理的欠陥を非破壊で観察することができます。 ...


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日本バーンズ株式会社

高精度超音波顕微鏡 全自動・ハイスピード超音波顕微鏡 FACTS DF2400

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■シリーズ概要 超音波顕微鏡 C-SAM は、半導体パッケージや電子デバイス内部に介在する物理的欠陥を非破壊で観察することができます。 ...


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日本バーンズ株式会社

高精度超音波顕微鏡 生産ライン検査向けハイスピードモデル超音波顕微鏡 Fast Line P300

最新の閲覧: 14時間前

■シリーズ概要 超音波顕微鏡 C-SAM は、半導体パッケージや電子デバイス内部に介在する物理的欠陥を非破壊で観察することができます。 ...


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