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カールツァイスの走査型電子顕微鏡

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3D分析と試料作製を高いスループットで実現する FIB-SEM Crossbeam-カールツァイス株式会社

カールツァイス株式会社

3D分析と試料作製を高いスループットで実現する FIB-SEM Crossbeam

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■概要 イメージングと分析性能を兼ね備えた高分解能電界放出型走査電子顕微鏡 (FE-SEM) に、次世代集束イオンビーム (FIB) の処理能力を統合。複数のユーザー...

4種類の品番

Crossbeam 350-3D分析と試料作製を高いスループットで実現する FIB-SEM Crossbeam
Crossbeam 550-3D分析と試料作製を高いスループットで実現する FIB-SEM Crossbeam
Crossbeam laser-3D分析と試料作製を高いスループットで実現する FIB-SEM Crossbeam
相関クライオ顕微鏡ワークフロー-3D分析と試料作製を高いスループットで実現する FIB-SEM Crossbeam

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