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東京インスツルメンツの分光分析装置

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東京インスツルメンツの分光分析装置8製品中の注目ランキング

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株式会社東京インスツルメンツ

分光計測 検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置 高感度ダブルパルスLIBS

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■高感度ダブルパルスLIBS 概要 LEA-S500型高感度ダブルパルスLIBSは、元素分析用に開発されたレーザー誘起プラズマ分光分析装置です。ダブルパルスレーザーを...


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株式会社東京インスツルメンツ

分光計測 多機能拡張型LIBS装置 Sci-Trace

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■多機能拡張型LIBS装置 Sci-Trace ・拡張性・選択制に富んだモジュール設計、雰囲気制御 (減圧/加圧、不活性ガス雰囲気下) ・ダブル/マルチパルスNd:YAGレー...


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分光計測 SFG (和周波発生) 分光システム

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■SFG (和周波発生) 分光システム ・非破壊・非接触で、表面・界面の (固体-液体-気体) の分子振動解析が可能 ・固体、液体、気体のあらゆる表面・界面に対応 ...


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分光計測 燃焼、プラズマ解析などの高感度分析システム LIF (レーザー誘起蛍光) 分析システム

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■製品概要 レーザー誘起蛍光法は光励起過程やプラズマ励起過程などの高感度な診断方法です。 特定の波長にチューニングしたレーザー光で分子・原子を電子励...


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分光計測 ナノ秒~ミリ秒の過渡吸収計測システム レーザーフラッシュフォトリシス

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■製品概要 本システムは、ナノ秒レーザーによって励起されたサンプルのナノ秒~ミリ秒オーダーの過渡吸収スペクトルおよび蛍光スペクトルを計測する装置です...


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電子デバイス材料のオペランド解析に革新的ツールが登場 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 オペランドKP-PYS材料分析システム

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■概要 本装置は、"オペランドKP*-PYS**材料分析システム"は、ケルビンプローブと光電子収量分光を組み合わせた"実動作下でエネルギー準位測定を実現する" 世...


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環境制御 X線光電子分光装置 EnviroESCA

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■特長 ・試料環境を低真空~高真空まで制御 ・固体から溶液、バイオ試料も測定可能 ・大型試料測定:最大Φ60 mm、高さ40 mm ・試料環境の制御 (雰囲気・温度)...


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8インチ、12インチ半導体ウエハ分析X線光電子分光装置 Enviro METROSシリーズ

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■概要 "Envio METROS"は、これまでのX線光電子分光装置の常識を打ち破る画期的な製品です。圧力環境を超高真空から準大気圧 (オプション) まで変化させること...


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