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日本分光の分光分析装置

9 点の製品がみつかりました

9 点の製品

日本分光株式会社

円偏光ルミネッセンス測定システム CPL-300

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最新の閲覧: 19時間前

円偏光ルミネッセンス (CPL) スペクトルには、励起分子の安定構造やそのふるまいなど、励起状態を経由する化学反応にとって重要な情報が...


日本分光株式会社

振動円偏光二色性分光光度計 FVS-6000

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FVS-6000はキラル分子の分子構造解析を目的とした赤外域での振動円偏光二色性 (VCD) 測定のために最適化された専用装置です。糖類などの...


日本分光株式会社

ハイスループット円二色性測定システム HTCD Plus

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円二色性分散計 (CD) は、タンパク質や核酸などの生体高分子の二次構造組成比の予測だけでなく、高次構造が変化する様子を均質な条件下...


日本分光株式会社

円二色性分散計 (Circular Dichroism spectrometer) J-1000series

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円二色性分散計 (Circular Dichroism spectrometer) J-1000シリーズは、光学設計の最適化と最新のデジタル信号処理技術により、新たなス...


日本分光株式会社

旋光計 P-2000series

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日本分光の旋光計P-2000シリーズは長年にわたり培われた高度な旋光度測定技術と最新のデジタル技術を融合することにより測定精度と操作...


日本分光株式会社

FTラマンシステム RFT-6000

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RFT-6000FTラマンシステムは長波長レーザーを試料に照射し、試料から散乱されたラマン散乱光を効率よく集光し、干渉計に導入するラマン...


日本分光株式会社

超臨界流体システム 超臨界流体抽出システム SFE

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最新の閲覧: 1日前

超臨界流体抽出法 (Supercritical Fluid Extraction, SFE) は、目的成分が含まれる対象物に抽出媒体の超臨界流体を加え、溶解度の差を利...


日本分光株式会社

ストップトフローシステム SFSseries

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日本分光は高速スキャン分光光度計FS-110、蛍光分光光度計FPシリーズおよび円二色性分散計Jシリーズ用にストップトフローシステムを用意...


日本分光株式会社

膜厚測定装置 UTS-2000

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最新の閲覧: 22時間前

膜厚測定装置UTS-2000は、最新の分光分析技術を応用し、非破壊・非接触で、高速かつ高精度にエピ膜、基板厚、エッチング残差などの膜厚を...


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