産業用製品メーカー比較 | Metoree
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1 点の製品がみつかりました
1 点の製品
株式会社ANSeeN
最新の閲覧: 4時間前
特徴 ■高感度 1mm 厚のテルル化カドミウム (CdTe) 半導体検出器により、従来型のX線センサよりも格段に高効率にX線を画像化します。100keVを超えるX線光子に...
検査装置
非破壊検査装置
マルチフォーカスX線透視CTシステム CCシリーズ
コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 コメット・エクスロン事業部
390人以上が見ています
最新の閲覧: 53分前
返答時間: 75.48時間
2種類の商品があります
X線CTシステム FFシリーズ FF20 CT
290人以上が見ています
最新の閲覧: 17時間前
X線CTシステム FFシリーズ FF35 CT
360人以上が見ています
最新の閲覧: 22時間前
X線CTシステム FFシリーズ FF85 CT
380人以上が見ています
最新の閲覧: 40分前
3種類の商品があります
X線透視・CTシステム UXシリーズ UX20
590人以上が見ています
最新の閲覧: 14時間前
X線透視・CTシステム UXシリーズ UX50
400人以上が見ています
世界最高水準のラジアルタイヤ検査用X線透視装置 MTIS
300人以上が見ています
最新の閲覧: 20時間前
供給・排出自動化 連続使用可能 非破壊検査装置全景
泉谷機械工業株式会社
190人以上が見ています
OCT非破壊光断層観察装置
ファイブラボ株式会社
260人以上が見ています
最速1秒で計測 表面評価技術 Sightia ECNI-Ⅱ
新東工業株式会社
170人以上が見ています
返答時間: 35.42時間
ノッチやベベルの欠陥を自動で検出 X線トポグラフィ―装置 JV SENSUS
ブルカージャパン株式会社
返答時間: 23.31時間
赤外線非破壊検査システム サーモ・インスペクター
株式会社KJTD
120人以上が見ています
最新の閲覧: 5時間前
検査測定装置 ベアチップ CI8000
株式会社安永
110人以上が見ています
検査測定装置 ベアチップ CI200i
140人以上が見ています
最新の閲覧: 3時間前
検査測定装置 ベアチップ CI200D/CI300D
130人以上が見ています
ノンパターンウェーハのパーティクルを高感度で測定 ウェハー表面検査装置 WM-7S
入江株式会社
50人以上が見ています
最新の閲覧: 15時間前
ウェハー表面検査装置 WM-10
40人以上が見ています
測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ
株式会社中央電機計器製作所
230人以上が見ています
検査測定装置 半導体・電子部品 LI920S/LI900W
200人以上が見ています
最新の閲覧: 49分前
ブライトライトウェハ表面検査装置 V2000
ハイソル株式会社
80人以上が見ています
最新の閲覧: 11時間前
チップ部品外観 (4面) 検査装置 OVS-6410
オカノ電機株式会社
60人以上が見ています
半導体ウェハ自動外観検査装置 CosmoFinder
三谷商事株式会社
370人以上が見ています
チップ外観検査装置
株式会社ピクリング
最新の閲覧: 12時間前
RMH搭載バラtoトレイ 外観検査装置
株式会社ヒューブレイン
