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リガクの非破壊検査装置

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29 点の製品

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株式会社リガク

X線検査装置 ハイコントラストモデル 1417WGB/1012WGB/0412WGB/0412DGA

最新の閲覧: 16時間前

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220.0時間 返答時間

ピクセルサイズ127μm、防塵、防水を兼ね備え、オールインパッケージ ■「ガス工作物技術基準の解釈例」にデジタルラジオグラフィーの追...


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株式会社リガク

単結晶X線構造解析装置 単結晶構造解析 統合プラットフォーム CrysAlisᴾʳᵒ

最新の閲覧: 1日前

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単結晶X線回折データ収集・処理・構造解析までの統合ソフトウェア ■統合プラットフォーム CrysAlisProは、無機結晶や有機結晶はもとよ...


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株式会社リガク

X線検査装置 検出器にFXG-DRを採用したデジタルX線検査装置システム DR-Lab

最新の閲覧: 18時間前

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■圧倒的に早い撮影時間 フィルムに比べ撮影時間が短縮され、ハイスループットの検査に最適です。撮影数秒後で画像表示することが可能で...


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株式会社リガク

単結晶X線構造解析装置 高分解能光子計数X線検出器 EIGER2 R Series (旧製品)

最新の閲覧: 14時間前

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■EIGER2Rseries EIGER2R検出器には、CdTeまたはSiセンサーが付属しています。高圧や電荷密度の研究など、高エネルギー (Agなど) 放射線...


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株式会社リガク

X線検査装置 高分解能モデル EXT2430G HR/EXT2430G FINE

最新の閲覧: 19時間前

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ピクセルサイズ76μmの高分解能DDAがより鮮明な画像を提供します。 ■「ガス工作物技術基準の解釈例」にデジタルラジオグラフィーの追加 ...


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株式会社リガク

結晶方位測定装置 自動ウェーハ結晶面方位測定X線装置 FSAS II

最新の閲覧: 1日前

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ウェーハの主面の切断角度、OF・ノッチ位置を自動で測定する装置です。 ■特長 ・真空チャック方式で試料を保持します。0°,90°,180°,270...


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株式会社リガク

結晶方位測定装置 自動X線単結晶方位測定装置 FSAS III

最新の閲覧: 1日前

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■単結晶材料の切り出し方位を、ワイヤソーその他の切断機に正確に伝えます Si、Ge、GaAs、SiC、水晶、LN、LT、サファイヤ、ルチル、蛍石...


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株式会社リガク

X線検査装置 モバイル型イメージングプレートスキャナー HD-CR 35 NDT

最新の閲覧: 12時間前

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■高い検査精度が求められる自動車・航空機部品検査等、幅広い用途に適合 世界基準を満たし、圧倒的な販売実績を誇る、ドイツDÜRRNDT社の...


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株式会社リガク

単結晶X線構造解析装置 高輝度マイクロフォーカス封入管X線源 PhotonJetMAX-S

最新の閲覧: 12時間前

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PhotonJetMAX-SはXtaLABSynergy-Sに搭載可能な最新のマイクロフォーカス封入管X線源です。管球からのX線光子を集光する光学系技術の向上...


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株式会社リガク

X線検査装置 インバーター方式工業用ポータブルX線装置 RF-1310CP

最新の閲覧: 18時間前

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■最新のインバーター技術と独自の高電圧技術により、「小型・軽量化」「高い透過能力」および「省エネ」を実現 RF-1310CPは低エネルギー...


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株式会社リガク

X線検査装置 工業用ポータブルX線装置 RF-200EGM2

最新の閲覧: 1日前

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■現場での撮影に、優れた操作性と堅牢性 現場での撮影作業には、優れた操作性と堅牢性が求められます。これを実現したのがRF-EGM2シリー...


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株式会社リガク

X線検査装置 工業用ポータブルX線装置 RF-200SPS

最新の閲覧: 23時間前

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■軽量・小型で高所/狭所の検査に最適 RadioflexRF-200SPSは、建物のメンテナンス、狭い場所や高い場所にあるコンクリートや配筋/配管の...


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X線検査装置 工業用ポータブルX線装置 RF-250EGM2

最新の閲覧: 1日前

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現場での撮影作業には、優れた操作性と堅牢性が求められます。これを実現したのがRF-EGM2シリーズです。X線発生器は、納入実績に裏付け...


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株式会社リガク

X線検査装置 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズの標準機 X線異物検査装置 RV-5020

最新の閲覧: 15時間前

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■靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズの標準機 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズの標準機です。L型...


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X線検査装置 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズ X線異物検査装置 RV-5020DV

最新の閲覧: 9時間前

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■靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズ 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズに2方向2画面同時検査装置...


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X線検査装置 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズ X線異物検査装置 RV-6030DV

最新の閲覧: 8時間前

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■2方向同時照射2画面表示機能 ラインセンサーを2つ搭載し、1回の検査で0°と25°の撮影画像が取得できます。また、2画面個別に明るさやコ...


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X線検査装置 モバイル型イメージングプレートスキャナー ScanX Discover

最新の閲覧: 1日前

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■軽量でありながら堅牢な屋外使用に適したイメージングプレートスキャナー (CR) 世界基準を満たし、圧倒的な販売実績を誇る、ドイツDÜR...


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高分解能X線回折装置 薄膜特性を分析するためのX線回折を使用したインラインモニタリングおよび制御 TFXRD シリーズ TFXRD-200

10人以上が見ています

最新の閲覧: 36分前

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■最大200mmウェーハのフルマッピング用X線回折 (XRD) システム TFXRD-200は、大口径ウェーハ上の薄膜の測定を目的とした専用のXRDツール...


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高分解能X線回折装置 薄膜特性を分析するためのX線回折を使用したインラインモニタリングおよび制御 TFXRD シリーズ TFXRD-300

最新の閲覧: 17時間前

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■300mmウェーハのフルマッピング用X線回折 (XRD) システム TFXRD-300は、大口径ウェーハ上の薄膜の測定を目的とした専用のXRDツールであ...


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X線トポグラフィ装置 ハイスループット&高分解能X線トポグラフイメージングシステム XRTmicron

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■非破壊で転位などの結晶欠陥、表面への貫通転位やエピタキシャル層の欠陥などを検出 新しい高輝度微小X線光源とそれに合わせた特殊X線...


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単結晶X線構造解析装置 デスクトップ単結晶X線構造解析装置 XtaLAB mini II

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1光子検出型ハイブリッドピクセル検出器を搭載した卓上型単結晶X線構造解析装置 ■最先端2次元半導体検出器を搭載 XtaLABminiIIは、光子...


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単結晶X線構造解析装置 2波長線源対応回転対陰極線源搭載 超高速・超高精度 単結晶X線構造解析装置

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■波長の異なる線源を1台のシステムに搭載したXtaLABSynergyシリーズの最上位機種 2波長線源を搭載した単結晶X線構造解析装置は、無機物...


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単結晶X線構造解析装置 マイクロフォーカス封入管システム 搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-i

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■低分子試料の構造解析のための単結晶X線回折装置 XtaLABSynergy-iは、リガク独自の高精度κゴニオメーターとHPC (ハイブリッドフォトン...


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単結晶X線構造解析装置 回転対陰極線源搭載 超高速・超高精度 単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-R

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■単結晶X線回折分析のための強力で高速なシステム XtaLABSynergy-Rは、XtaLABSynergyシリーズのマイクロフォーカス回転対陰極型X線線源...


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単結晶X線構造解析装置 高輝度マイクロフォーカス封入管X線源搭載単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy-S

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■低分子・生体高分子構造解析のための高速単結晶X線回折装置 XtaLABSynergy-Sは、低分子、生体高分子の区別なく、使用する方の目的達成...


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株式会社リガク

CD SAXS XTRAIA CD シリーズ 斜入射X線CD計測ツール XTRAIA CD-3010G

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■斜入射X線CD計測ツール ・GISAXSによるCD測定、X線反射率 (XRR) 測定による膜厚、密度、および粗さの測定などが可能です。 ・300mmウェ...


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株式会社リガク

CD SAXS XTRAIA CD シリーズ 透過X線CD計測ツール XTRAIA CD-3200T

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最新の閲覧: 16時間前

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220.0時間 返答時間

■透過X線CD計測ツール ・TSAXSは、CD測定のためのインライン小角X線散乱法です。 ・最大300mmウェーハまで対応 ・最先端のデバイスマイ...


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株式会社リガク

高分解能X線回折装置 XTRAIA XDシリーズ インラインHRXRD/XRR計測ツール XTRAIA XD-3200

最新の閲覧: 18時間前

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220.0時間 返答時間

■インラインHRXRD/XRR計測ツール ブランケットおよびパターン化されたウェーハのための高分解能XRDエピタキシャル膜特性評価。XTRAIAXD-...


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高分解能X線回折装置 XTRAIA XDシリーズ インラインHRXRD/XRR計測ツール XTRAIA XD-3300

最新の閲覧: 1日前

100.0% 返答率

220.0時間 返答時間

■インラインHRXRD/XRR計測ツール ブランケットおよびパターン化されたウェーハのための高分解能XRDエピタキシャル膜特性評価。XTRAIAXD-...


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