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測定方式

非接触型

反射型

精度

高精度型

測定範囲 μm

0 - 10

測定精度 μm

0 - 5

豊伸電子の膜厚計

1 点の製品がみつかりました

1 点の製品

株式会社豊伸電子

光干渉膜厚計 HE3224

150人以上が見ています

シリコンウエハなど透明の薄膜を光の干渉を利用して高精度に測定します。 ■内容 ・測定ヘッド1台 ・測定 台1台 ・分光器1台 ・分光器~...




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