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豊伸電子の膜厚計

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株式会社豊伸電子

光干渉膜厚計 HE3224

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シリコンウエハなど透明の薄膜を光の干渉を利用して高精度に測定します。 ■内容 ・測定ヘッド1台 ・測定 台1台 ・分光器1台 ・分光器~ヘッド間光ファイバー...


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