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#材料研究
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オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
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■特徴 レーザー干渉変位計測 (IDS; Interferometric Displacement Sensor) はCypher AFM/SPM のオプションであり、従来の光てこによるた...
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
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■特徴 レーザー干渉変位計測 (IDS; Interferometric Displacement Sensor) はCypher AFM/SPM のオプションであり、従来の光てこによるた...