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ニデックアドバンステクノロジーの半導体パッケージ

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ニデックアドバンステクノロジー株式会社

自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7755 ICS/SLP用

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高速高精度シャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動基板検査装置 多面付け基板 (SLP/ICS/MCM/MCP/CSP等) パターンの導通・短絡 (絶縁) 検査に最適 ファ...


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ニデックアドバンステクノロジー株式会社

自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7512 ICS/メモリ基板用

最新の閲覧: 1時間前

高速高精度シャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動基板検査装置 多面付け基板 (CCM/Memory用途/ICS/CSP等) パターンの導通・短絡 (絶縁) 検査に最適 C...


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ニデックアドバンステクノロジー株式会社

自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-7861 FC-BGA/パネル用

最新の閲覧: 16時間前

高速高精度‐上/下デュアルシャトル型ステップ&リピート式OPEN/LEAK自動パネル基板検査装置 FC-BGA多面付け基板をデュアルシャトルで効率よく検査、パネルレ...


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ニデックアドバンステクノロジー株式会社

自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-2300 FC-BGA/個片用

最新の閲覧: 7時間前

高速高精度‐ロータリー・INDEXテーブル式OPEN/LEAK自動個片基板検査装置 BGA-MCM個片パッケージの高速検査に最適。8ステーションのロータリー・インデックス・...


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ニデックアドバンステクノロジー株式会社

自動電気検査装置 半導体パッケージ用自動検査装置 GATS-6310

最新の閲覧: 3時間前

多面付けCSP基板 導通・短絡 (絶縁) 検査システム 0.6sec/ピースの超高速検査を実現。ファインピッチ&極薄FC-CSP基板の検査に最適な高速高精度次世代型検査...


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