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デスクトップ型膜厚計 XUV-エフ・アイ・テック株式会社

エフ・アイ・テック株式会社

デスクトップ型膜厚計 XUV

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■特徴 ・低い検出限度、反復可能な高い精度、広くアップグレードできる測定などにより、研究開発に特に適合します ・軽元素でも高い精度で測定できる真空チャ...


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