磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置-μKerrループ測定装置
磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置-ネオアーク株式会社

磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置
ネオアーク株式会社



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この製品について

■特長/用途

・パターン磁性膜等を対象としたミクロンオーダの局所評価を行うヒステリシスループ測定装置 ・切替機構により面内方向・垂直方向の測定に対応が可能 ・大気中にて簡便な操作のみ、短時間で磁気光学特性を評価 ・マッピング測定・電動ステージオプション有

  • シリーズ

    磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置

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磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定方向 使用光源 空間分解能 最大印加磁場
磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置-品番-μKerrループ測定装置

μKerrループ測定装置

要見積もり 面内/垂直方向
(手動切り替え)
半導体レーザ <Φ2μm
(※×50対物レンズ、垂直評価時)
垂直15kOe (1.5T) 、面内10kOe

のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

ネオアーク株式会社は、レーザ光線やレーザ計測システム、レーザ検査システムの事業を展開している会社です。 1976年に資本金4000万円で設立されたこの会社は、本社を東京都八王子市に構えています。その他にも、大阪支店を大...

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  • 本社所在地: 大阪府
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