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磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置-μKerrループ測定装置
磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置-ネオアーク株式会社

磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置
ネオアーク株式会社

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■特長／用途

・パターン磁性膜等を対象としたミクロンオーダの局所評価を行うヒステリシスループ測定装置 ・切替機構により面内方向・垂直方向の測定に対応が可能 ・大気中にて簡便な操作のみ、短時間で磁気光学特性を評価 ・マッピング測定・電動ステージオプション有

  • シリーズ

    磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置

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磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定方向 使用光源 空間分解能 最大印加磁場
磁気光学効果測定装置 μKerrループ測定装置-品番-μKerrループ測定装置

μKerrループ測定装置

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面内／垂直方向
(手動切り替え)

半導体レーザ

<Φ2μm
(※×50対物レンズ、垂直評価時)

垂直15kOe (1.5T) 、面内10kOe

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会社概要

ネオアーク株式会社は、レーザ光線やレーザ計測システム、レーザ検査システムの事業を展開している会社です。 1976年に資本金4000万円で設立されたこの会社は、本社を東京都八王子市に構えています。その他にも、大阪支店を大...

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  • 本社所在地: 大阪府

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