水晶デバイス製造温度試験温度特性検査装置 PTTA-C5ZⅡ-PTTA-C5ZⅡ

水晶デバイス製造温度試験温度特性検査装置 PTTA-C5ZⅡ
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この製品について

■概要・SMD水晶振動子の温度特性検査を行う装置です。
・低温側 (-40度) ～高温側 (120度) の温度範囲で5点の温度特性検査を実現しています。

■特長・温度制御にペルチェ素子モジュールを採用したことにより、均一な温度分布を実現しています。
・小型SMD水晶振動子に対応した温度特性検査装置です。
・タクトタイム0.5secを実現した高精度・高速マシンです。
・1,210/1,008の小型パッケージに対応する高精度な温度測定検査が可能です。

■使用例・小型SMD水晶振動子に対応した温度特性検査装置です。
・キャリア治具・測定部を変更するだけで、さまざまなワーク検査が可能です。
・検査規格を設ける事で、正確な良品／不良品を分類する事が出来ます。

※ 性能改良のため、外観及び仕様の一部を変更することがありますのでご了承ください。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
水晶デバイス製造温度試験温度特性検査装置 PTTA-C5ZⅡ

取扱企業
株式会社PFA

カテゴリ

試験機器

環境試験機

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水晶デバイス製造温度試験温度特性検査装置 PTTA-C5ZⅡ 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	対象ワーク	対象ワークサイズ	検査項目	検査温度範囲	ワーク供給	ワーク搬送	ワーク収納	サイクルタイム	外形寸法
	PTTA-C5ZⅡ	要見積もり	SMD型水晶振動子	3.2×2.5~1.0×0.8 (mm)	周波数・抵抗値	-40℃~+120℃ (5点：温度範囲は応相談)	パーツフィーダ	専用キャリア (64個／トレー)	収納BOX	約0.5秒／個 (測定条件により伸びる場合が発生します。)	標準仕様：W2,450×D1,100×H1,700mm (計測器・パトライトなどの突起物除く)