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水晶デバイス製造 温度試験 温度特性検査装置 PTTA-C5ZⅡ-PTTA-C5ZⅡ
水晶デバイス製造 温度試験 温度特性検査装置 PTTA-C5ZⅡ-株式会社PFA

水晶デバイス製造 温度試験 温度特性検査装置 PTTA-C5ZⅡ
株式会社PFA

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この製品について

■概要

・SMD水晶振動子の温度特性検査を行う装置です。 ・低温側 (-40度) ~高温側 (120度) の温度範囲で5点の温度特性検査を実現しています。

■特長

・温度制御にペルチェ素子モジュールを採用したことにより、均一な温度分布を実現しています。 ・小型SMD水晶振動子に対応した温度特性検査装置です。 ・タクトタイム0.5secを実現した高精度・高速マシンです。 ・1,210/1,008の小型パッケージに対応する高精度な温度測定検査が可能です。

■使用例

・小型SMD水晶振動子に対応した温度特性検査装置です。 ・キャリア治具・測定部を変更するだけで、さまざまなワーク検査が可能です。 ・検査規格を設ける事で、正確な良品/不良品を分類する事が出来ます。 ※ 性能改良のため、外観及び仕様の一部を変更することがありますのでご了承ください。

  • シリーズ

    水晶デバイス製造 温度試験 温度特性検査装置 PTTA-C5ZⅡ

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水晶デバイス製造 温度試験 温度特性検査装置 PTTA-C5ZⅡ 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 対象ワーク 対象ワークサイズ 検査項目 検査温度範囲 ワーク供給 ワーク搬送 ワーク収納 サイクルタイム 外形寸法
水晶デバイス製造 温度試験 温度特性検査装置 PTTA-C5ZⅡ-品番-PTTA-C5ZⅡ

PTTA-C5ZⅡ

要見積もり

SMD型水晶振動子

3.2×2.5~1.0×0.8 (mm)

周波数・抵抗値

-40℃~+120℃ (5点:温度範囲は応相談)

パーツフィーダ

専用キャリア (64個/トレー)

収納BOX

約0.5秒/個 (測定条件により伸びる場合が発生します。)

標準仕様:W2,450×D1,100×H1,700mm (計測器・パトライトなどの突起物除く)

フィルターから探す

環境試験機をフィルターから探すことができます

温度範囲 ℃

-80 - -60 -60 - -40 -40 - -20 -20 - 0 0 - 20 20 - 40 40 - 60 60 - 80 80 - 100 100 - 120 120 - 140 140 - 160 160 - 180 180 - 200

温度変化速度 ℃/分

0 - 1 1 - 2 2 - 3 3 - 10 10 - 20 20 - 30

温度極値到達時間 分

10 - 30 30 - 50 50 - 80 80 - 120

湿度範囲 %RH

10 - 30 30 - 70 70 - 90 90 - 100

試験室床面積 ㎡

0 - 5 5 - 10 10 - 20

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この商品の取り扱い会社情報

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  • 本社所在地: 埼玉県

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