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水晶デバイス製造 温度試験 DIP検査用温度試験装置 PTT-300取扱企業
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商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 対象ワーク | 対象ワークサイズ | 温度範囲 | 温調時間 (概略) | 触針ブロック | 測定器 | 温調方式 | 温調プレート | ワーク供給 | 外形寸法 | オプション |
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PTT-300 |
要見積もり | SMD型水晶発振器 ※オプションでSMD型水晶振動子対応も可能 | 5.0×3.2~1.6×1.2 (mm) ※ワークサイズは応相談 | -30℃~+85℃ ※温度範囲は応相談 | +25℃⇒-30℃:約5分、-30℃⇒+85℃:約10分、+85℃⇒+25℃:約5分 | プローブ式:2式 (温調プレート1、温調プレート2:各1式) | 周波数カウンター+電源 | ペルチェ素子+チラーユニット | 約80個配列の専用トレー | 段積みトレーより供給して、温調プレート (専用トレー) に移載 |
本体:W1,200×D800×H1,500mm (計測器、パトライトなどの突起物除く) チラー:W340×D384×H851mm×4式 (温調プレート用) |
SMD型水晶振動子に対応可能、切替部品で複数サイズの品種に対応可能 |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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