水晶デバイス製造温度試験 DIP検査用温度試験装置 PTT-300-PTT-300

水晶デバイス製造温度試験 DIP検査用温度試験装置 PTT-300
株式会社PFA

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この製品について

■概要SMD型水晶発振器の温度特性を検査する装置です。-30℃から+85℃までの範囲を連続的に温度を変化させることにより、温度特性のDIP (ディップ) 検査することが可能です。

■特長・本装置は温度制御にペルチェ素子を採用し、ペルチェ素子で温調されたプレート上にSMD型水晶発振器を置くことにより、高精度な温度特性試験が可能です。また、-30～+85℃の範囲を0.5℃の温度ステップで温度制御することで、正確な温度特性のDIP検査が可能です。
・多数個同時測定により、高スループットを実現しています。
・ローダ、アンローダにて、供給から分類、収納まで全自動で行います。
・開発、品質保証、試作や小ロット生産に最適な温度検査装置です。

■使用例・SMD型水晶発振器の温度特性を検査する装置です。
・-30℃から+85℃までの範囲を連続的に温度を変化させることにより、温度特性のDIP (ディップ) 検査することが可能です。

■オプション対応・SMD型水晶振動子の温度特性検査
・専用治具交換より複数品種対応

※ 性能改良のため、外観及び仕様の一部を変更することがありますのでご了承ください。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
水晶デバイス製造温度試験 DIP検査用温度試験装置 PTT-300

取扱企業
株式会社PFA

カテゴリ

試験機器

環境試験機

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水晶デバイス製造温度試験 DIP検査用温度試験装置 PTT-300 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	対象ワーク	対象ワークサイズ	温度範囲	温調時間 (概略)	触針ブロック	測定器	温調方式	温調プレート	ワーク供給	外形寸法	オプション
	PTT-300	要見積もり	SMD型水晶発振器 ※オプションでSMD型水晶振動子対応も可能	5.0×3.2~1.6×1.2 (mm) ※ワークサイズは応相談	-30℃~+85℃ ※温度範囲は応相談	+25℃⇒-30℃：約5分、-30℃⇒+85℃：約10分、+85℃⇒+25℃：約5分	プローブ式：2式 (温調プレート1、温調プレート2：各1式)	周波数カウンター＋電源	ペルチェ素子＋チラーユニット	約80個配列の専用トレー	段積みトレーより供給して、温調プレート (専用トレー) に移載	本体：W1,200×D800×H1,500mm (計測器、パトライトなどの突起物除く) チラー：W340×D384×H851mm×4式 (温調プレート用)	SMD型水晶振動子に対応可能、切替部品で複数サイズの品種に対応可能