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電磁ノイズ発生源を逃さずキャッチ 近傍磁界測定装置 EMIテスタ EMV-200,EMV-100-EMV-100
電磁ノイズ発生源を逃さずキャッチ 近傍磁界測定装置 EMIテスタ EMV-200,EMV-100-EMV-200
電磁ノイズ発生源を逃さずキャッチ 近傍磁界測定装置 EMIテスタ EMV-200,EMV-100-株式会社ペリテック

電磁ノイズ発生源を逃さずキャッチ 近傍磁界測定装置 EMIテスタ EMV-200,EMV-100
株式会社ペリテック



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この製品について

ペリテックのEMIテスタは、電子機器から発生する電界・磁界のノイズ分布を高精度に自動測定します。高精度可動テーブルは、PCBやIC等に複雑な凸凹があっても、その形状を自動的にトレースし、高感度に測定します。測定したデータは、多彩な3Dグラフィックスで可視化します。

■自動杖突機構

被測定物に複雑な凹凸が有っても、自動倣い機能で磁界プローブが至近距離を自動トレースするため、高感度・高分解能の測定が可能です。

■グラフィック表示

測定したデータは、多彩な3Dグラフィックスで可視化します。 新機能オプション

■カメラ画像と合成表示

装置に設置したカメラで測定開始時に測定対象の写真撮影を行い、測定した電界・磁界の分布図と重ね合わせて表示させることが可能です。

■DEMITASNXとデータリンク

EMIテスタで測定した磁界データの分布図とDEMITASNXで使用されたCADデータを重ね合わせて表示させることが可能です。

■時間領域の解析 (APD)

Amplitude Probability Distribution (APD) と計測を多チャンネル同時に行うことが可能になり、通信品質の電磁波ノイズ源の関係解析に貢献します。

■ 電磁界同時計測

電磁界同時計測プローブを用いて子機器の近傍EMIを電界と磁界両方を同時に解析することができます。

  • シリーズ

    電磁ノイズ発生源を逃さずキャッチ 近傍磁界測定装置 EMIテスタ EMV-200,EMV-100

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電磁ノイズ発生源を逃さずキャッチ 近傍磁界測定装置 EMIテスタ EMV-200,EMV-100 品番2件

フィルター
商品画像 品番 価格 (税抜) 可動テーブル 位置精度 X/Y軸 可動テーブル 位置精度 Z軸 可動テーブル 位置精度 θ軸 統合制御コントローラ 制御用PC 統合制御コントローラ ソフトウエアオプション 電源 AC電源入力 オプション 測定器 オプション アンテナ オプション プリアンプ オプション シールドボックス
電磁ノイズ発生源を逃さずキャッチ 近傍磁界測定装置 EMIテスタ EMV-200,EMV-100-品番-EMV-100

EMV-100

要見積もり

170mm

100mm

-100~+230°deg.

±0.05mm

±0.05mm

±1°deg.

387×405×735mm

20kg

Microsoft Windows 7 (Microsoft Windows10対応可能)

制御プログラムEMVm5

LabVIEW API

AC100-230V,50Hz/60Hz

0.5kVA max

スペクトラムアナライザ (各社対応)

電界アンテナW07E,磁界アンテナW07,その他

100MHz~6GHz,NF=2.5dB,GAIN=36dB,その他

テスターモデルに応じた専用シールドボックスがあります。

電磁ノイズ発生源を逃さずキャッチ 近傍磁界測定装置 EMIテスタ EMV-200,EMV-100-品番-EMV-200

EMV-200

要見積もり

300mm

230mm

=+360°deg.

±0.05mm

±0.05mm

±1°deg.

565×680×1,003mm

97kg

Microsoft Windows 7 (Microsoft Windows10対応可能)

制御プログラムEMV5

LabVIEW API

AC100-230V,50Hz/60Hz

1.0kVA max

スペクトラムアナライザ (各社対応)

電界アンテナW07E,磁界アンテナW07,その他

100MHz~6GHz,NF=2.5dB,GAIN=36dB,その他

テスターモデルに応じた専用シールドボックスがあります。

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