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レンズユニット波面計測システム LUCAS-レンズユニット波面計測システム LUCAS1 / 2インチ
レンズユニット波面計測システム LUCAS-パルステック工業株式会社

レンズユニット波面計測システム LUCAS
パルステック工業株式会社

パルステック工業株式会社の対応状況

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この製品について

安定したリアルタイム波面計測を自由な構成で実現できます 特長 ・LUCAS-NUK 安定したリアルタイムうねり計測を低価格で実現したシステムです。 高さの計測範囲が広く、白色干渉計では一度に計測が困難なうねりを計測できます。 小型・軽量で様々な機器への組み込んで使用できます。 リアルタイム[0.1sec (max) ]なうねり計測ができます。 ・LUCAS レンズユニットの検査・調整システムです。 ダイナミックレンジが広く干渉計では困難な大きな収差も計測できます。 ベースユニットには、波面センサに加え、オートコリメータや計測光として使用できるレーザ光源、調整を容易にするアライメントカメラを内蔵しています。 必要に応じて各種アクセサリ (ビームエキスパンダ、集光レンズ、参照球面など) を選択できます。 使用例 ・LUCAS-NUK 半導体ウェーハのうねり計測 平面基板上の金属薄膜のうねり計測 金属表面やガラス表面のうねり計測 ハードディスク表面のうねり計測 ・LUCAS 非球面レンズや凹凸レンズの検査 レンズユニットや光学デバイスの調整 平面物の反射、透過波面の検査

  • シリーズ

    レンズユニット波面計測システム LUCAS

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レンズユニット波面計測システム LUCAS 品番2件

フィルター
商品画像 品番 価格 (税抜) 測定波長 測定精度 インターフェイス 動作温度 寸法 重量
レンズユニット波面計測システム LUCAS-品番-レンズユニット波面計測システム LUCAS1 / 2インチ

レンズユニット波面計測システム LUCAS1 / 2インチ

要見積もり

635mm(入射可能波長範囲:400-800nm)

φ4.0-9.6mm

φ8.0-18.4mm

φ12.0-27.5mm

<1/100λRMS(3σ)

<1/500λRMS(3σ)

180μm(Typ.)

20Hz(Max)

IEEE1394(6pin)

15-35℃

180×330×130mm(W×D×H)

7.2kg(ベースユニット)

レンズユニット波面計測システム LUCAS-品番-レンズユニット波面計測システム LUCAS2 / 3インチ

レンズユニット波面計測システム LUCAS2 / 3インチ

要見積もり

635mm(入射可能波長範囲:400-800nm)

φ8.0-12.8mm

φ16.0-25.6mm

φ24.0-38.4mm

<1/100λRMS(3σ)

<1/300λRMS(3σ)

300μm(Typ.)

10Hz(Max)

IEEE1394(6pin)

15-35℃

180×330×130mm(W×D×H)

7.2kg(ベースユニット)

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この商品の取り扱い会社情報

返答率

100.0%


返答時間

18.4時間

会社概要

パルステック工業株式会社は、電子応用機器・装置の製造および販売を事業内容とするメーカー企業です。 1969年に、電子機器製造販売を目的として設立されています。 主な製品には、X線残留応力測定装置、3Dスキャナ、波面セン...

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  • 本社所在地: 静岡県
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