原子間力顕微鏡の校正用標準試料 AFM Tip Characterizer (AFMTC)
パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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この製品について

AFMTCサンプルは、10本の超微細トレンチ (10～50nm) と50nmの分離されたラインから構成されています。この校正用サンプルは、ナノスケールのトレンチ測定やAFMチップの形状特性を評価するための認定標準物質としてユーザーに提供されます。

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商品画像	品番	価格 (税抜)	トレンチ幅	ライン幅	トレンチの高さ	素材	トレーサビリティ
	AFM Tip Characterizer (AFMTC)	要見積もり	10nm,13nm,16nm,19nm,22nm,26nm,30nm,35nm,40nm,50nm	50nm	100nm (not certified) 、4.0mm (認証域：中央から3mm)	多結晶シリコン	KOLAS* (KRISS**) はISO 17034:2016に準じています。