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原子間力顕微鏡の校正用標準試料 AFM Tip Characterizer (AFMTC) -AFM Tip Characterizer (AFMTC)
原子間力顕微鏡の校正用標準試料 AFM Tip Characterizer (AFMTC) -パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡の校正用標準試料 AFM Tip Characterizer (AFMTC)
パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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この製品について

AFMTCサンプルは、10本の超微細トレンチ (10～50nm) と50nmの分離されたラインから構成されています。この校正用サンプルは、ナノスケールのトレンチ測定やAFMチップの形状特性を評価するための認定標準物質としてユーザーに提供されます。

  • シリーズ

    原子間力顕微鏡の校正用標準試料 AFM Tip Characterizer (AFMTC)

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原子間力顕微鏡の校正用標準試料 AFM Tip Characterizer (AFMTC) 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) トレンチ幅 ライン幅 トレンチの高さ 素材 トレーサビリティ
原子間力顕微鏡の校正用標準試料 AFM Tip Characterizer (AFMTC) -品番-AFM Tip Characterizer (AFMTC)

AFM Tip Characterizer (AFMTC)

要見積もり

10nm,13nm,16nm,19nm,22nm,26nm,30nm,35nm,40nm,50nm

50nm

100nm (not certified) 、4.0mm (認証域：中央から3mm)

多結晶シリコン

KOLAS* (KRISS**) はISO 17034:2016に準じています。

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