原子間力顕微鏡の校正用標準試料 AFM Tip Characterizer (AFMTC)
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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この製品について
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シリーズ
原子間力顕微鏡の校正用標準試料 AFM Tip Characterizer (AFMTC)
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取扱企業
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
原子間力顕微鏡の校正用標準試料 AFM Tip Characterizer (AFMTC) 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | トレンチ幅 | ライン幅 | トレンチの高さ | 素材 | トレーサビリティ |
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AFM Tip Characterizer (AFMTC) |
要見積もり | 10nm,13nm,16nm,19nm,22nm,26nm,30nm,35nm,40nm,50nm | 50nm | 100nm (not certified) 、4.0mm (認証域：中央から3mm) | 多結晶シリコン | KOLAS* (KRISS**) はISO 17034:2016に準じています。 |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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- 本社所在地: 東京都