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MOSFET構造半導体空乏層およびゲート電極直下誘電体膜比誘電率測定装置・システム-DPS48
MOSFET構造半導体空乏層およびゲート電極直下誘電体膜比誘電率測定装置・システム-キーコム株式会社

MOSFET構造半導体空乏層およびゲート電極直下誘電体膜比誘電率測定装置・システム
キーコム株式会社



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この製品について

■概要

空乏層の誘電率も測定可能。MOSFET構造半導体空乏層およびゲート電極直下誘電体膜 の比誘電率を測定するシステムです。 絶縁膜の厚み、およびドーピング濃度が必要です。※バイアス使用

  • シリーズ

    MOSFET構造半導体空乏層およびゲート電極直下誘電体膜比誘電率測定装置・システム

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MOSFET構造半導体空乏層およびゲート電極直下誘電体膜比誘電率測定装置・システム 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定周波数 比誘電率 測定可能温度
MOSFET構造半導体空乏層およびゲート電極直下誘電体膜比誘電率測定装置・システム-品番-DPS48

DPS48

要見積もり

20Hz ~ 2MHz
※機種により異なる

1.05-1,000 精度±3%~7% (LCRメータ機種および測定環境に依存する)

10k~200℃ (対応ジグを使用)

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

キーコム株式会社は、高周波技術関連製品およびシステムの設計・製作・測定を手掛ける専業メーカーです。 1992年に創業し、300GHz~1Hzまで、超高周波・ミリ波・マイクロ波・超低周波分野の測定装置開発・測定経験・高周...

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  • 本社所在地: 東京都
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