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静電容量方式 平面板,液体,ジェル,極薄膜,複合薄膜比誘電率・誘電正接測定装置・システム-DPS17
静電容量方式 平面板,液体,ジェル,極薄膜,複合薄膜比誘電率・誘電正接測定装置・システム-キーコム株式会社

静電容量方式 平面板,液体,ジェル,極薄膜,複合薄膜比誘電率・誘電正接測定装置・システム
キーコム株式会社



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この製品について

■概要

高精度測定。低温~高温、 真空 (減圧) 環境試験等 対象物にあわせてカスタマイズ可能。平面板、液体、ジェルの比誘電率およびtanδを測定するシステムです (ジグにより温度変化に対応可) 。CPUによる外部制御をするインターフェースを持っています。 常温測定のみならず、時間のかかる温度変化測定を自動化可能です。 (この他にWindows PC、室温以外で測定する場合には恒温槽が必要です。) 水分子の影響を除去したい場合は、真空試験用にカスタマイズいたします。

■対応規格例

ASTM D-150, JIS C2101, JIS C2141, JIS C 6481, JIS K6911 他 (規格をご指定ください。対応ジグをご紹介いたします)

■電界方向

シート、フィルムの場合は、試料厚み方向

  • シリーズ

    静電容量方式 平面板,液体,ジェル,極薄膜,複合薄膜比誘電率・誘電正接測定装置・システム

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静電容量方式 平面板,液体,ジェル,極薄膜,複合薄膜比誘電率・誘電正接測定装置・システム 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定周波数範囲 比誘電率 測定範囲 比誘電率 Accuracy (繰り返し精度) 比誘電率 繰り返し精度+真の値に対する正確度 誘電正接 測定範囲 誘電正接 Accuracy (繰り返し精度) 誘電正接 繰り返し精度+真の値に対する正確度 測定可能温度 測定可能真空度
静電容量方式 平面板,液体,ジェル,極薄膜,複合薄膜比誘電率・誘電正接測定装置・システム-品番-DPS17

DPS17

要見積もり

1цHz~10MHz

1.05-1,000

±1%もしくは ±0.01 (LCRメータの精度に依存する。左は下記のLCRメータを使用した場合)

±3% (測定理論および治具の設計に依存する)

0.0003-10 @1MHz

±2% (LCRメータの精度に依存する。左は下記のLCRメータの基本測定確度範囲の場合)

±3% (測定理論および治具の設計に依存する 左はDPT-2141使用)

10k~300℃ (対応ジグを使用)

10^-1Pa~10^-3Pa (対応ジグを使用)

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

キーコム株式会社は、高周波技術関連製品およびシステムの設計・製作・測定を手掛ける専業メーカーです。 1992年に創業し、300GHz~1Hzまで、超高周波・ミリ波・マイクロ波・超低周波分野の測定装置開発・測定経験・高周...

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  • 本社所在地: 東京都
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