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比誘電率,誘電正接,比透磁率測定装置・システム 入射角変化法-DPS22
比誘電率,誘電正接,比透磁率測定装置・システム 入射角変化法-キーコム株式会社

比誘電率,誘電正接,比透磁率測定装置・システム 入射角変化法
キーコム株式会社



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この製品について

■概要

反射減衰量および反射位相角の入射角依存性をTE波とTM波について測定します。この測定値から逆推定することにより、複素比誘電率および複素透磁率を求めます。 同軸管タイプや導波管タイプと違い、フィクスチャ内にサンプルを入れないため、エア・ギャップによるエラーが発生しません。また、アンテナにレンズを取り付けていますので、コンパクトにもかかわらず、サンプルを平面波で測定でき、高い測定精度を得られます。 さらに、アンテナから出た電波は平行ビームのため、サンプルは小さくすることができます。なお、εr'とμrが周波数ごとにわかります。暗室なしで測定できます。

  • シリーズ

    比誘電率,誘電正接,比透磁率測定装置・システム 入射角変化法

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比誘電率,誘電正接,比透磁率測定装置・システム 入射角変化法 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定周波数 εr' μr' εr'' μr'' tanδ 入射角 (半角)
比誘電率,誘電正接,比透磁率測定装置・システム 入射角変化法-品番-DPS22

DPS22

要見積もり

・2.6-26.5GHz (大きさ450×1000以上 厚み50mm以下の試料)
・26.5-110GHz (大きさ100×100以上 厚み50mm以下の試料)

2-200 精度±7%

0.01-20 精度±15%

0.01-0.1 精度±15%

最小: ∠15 最大: ∠90

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

キーコム株式会社は、高周波技術関連製品およびシステムの設計・製作・測定を手掛ける専業メーカーです。 1992年に創業し、300GHz~1Hzまで、超高周波・ミリ波・マイクロ波・超低周波分野の測定装置開発・測定経験・高周...

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  • 本社所在地: 東京都
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