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比誘電率,誘電正接,比透磁率,透過減衰量、反射減衰量測定装置・システム Sパラメータ方式反射法および透過法同軸管、導波管タイプ-DPS08
比誘電率,誘電正接,比透磁率,透過減衰量、反射減衰量測定装置・システム Sパラメータ方式反射法および透過法同軸管、導波管タイプ-キーコム株式会社

比誘電率,誘電正接,比透磁率,透過減衰量、反射減衰量測定装置・システム Sパラメータ方式反射法および透過法同軸管、導波管タイプ
キーコム株式会社



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この製品について

■概要

電波吸収材料等、損失が大きめの材料の測定に最適。小さな試料で測定が可能な、閉鎖系の測定システムです。高誘電正接の測定に適しており、同時に透磁率の測定も可能です。 原理上、試料と治具の間に隙間ができるため精度は落ちますが、この手法しか測定できない帯域をカバーします。なお、遠方界用電波吸収体の設計用に、 誘電率・透磁率を測定後、ワンクリックで実測値通りの電波吸収率がシミュレーションできるソフトウェア、単層タイプ/多層タイプ 電波吸収体・反射減衰量シミュレーションソフトEAS01をご用意しております。 ※透磁率と誘電正接は互いに影響しあうため、同時に取得する場合の確度は高くありません。高精度測定をご希望の場合は、 磁性材料測定システムPER01をご利用ください。

  • シリーズ

    比誘電率,誘電正接,比透磁率,透過減衰量、反射減衰量測定装置・システム Sパラメータ方式反射法および透過法同軸管、導波管タイプ

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比誘電率,誘電正接,比透磁率,透過減衰量、反射減衰量測定装置・システム Sパラメータ方式反射法および透過法同軸管、導波管タイプ 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定周波数 比誘電率 測定範囲 比誘電率 Accuracy (繰り返し精度) 比誘電率 繰り返し精度+真の値に対する正確度 誘電正接 測定範囲 誘電正接 Accuracy (繰り返し精度) 誘電正接 繰り返し精度+真の値に対する正確度
比誘電率,誘電正接,比透磁率,透過減衰量、反射減衰量測定装置・システム Sパラメータ方式反射法および透過法同軸管、導波管タイプ-品番-DPS08

DPS08

要見積もり

40MHz-12.8GHz
非推奨: 12.8~110GHz

2-200

±3% (ネットワークアナライザの精度に依存する)

±10% (測定理論および治具の設計に依存する)

0.01-20

±6% (ネットワークアナライザの精度に依存する)

±20% (測定理論および治具の設計に依存する)

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

キーコム株式会社は、高周波技術関連製品およびシステムの設計・製作・測定を手掛ける専業メーカーです。 1992年に創業し、300GHz~1Hzまで、超高周波・ミリ波・マイクロ波・超低周波分野の測定装置開発・測定経験・高周...

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  • 本社所在地: 東京都
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