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比誘電率/誘電正接測定システム TE空洞共振器-DPS19
比誘電率/誘電正接測定システム TE空洞共振器-キーコム株式会社

比誘電率/誘電正接測定システム TE空洞共振器
キーコム株式会社



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この製品について

■概要

シート状試料、セラミックス等の誘電率測定システム。真空試験、温度変化試験可能。 スプリットシリンダ共振器とも呼ばれ、共振器の間にシート状サンプルを挟み込み測定を行います。今までのいわゆる「スリット構造のスプリットシリンダ共振器」では測定値が正確に出ないことが問題でした。 これを解決するために、キーコムでは試料挿入および AIR の共振 Q 値測定を容易に行えるよう、共振器のギャップを自在に制御する Cavity 上下動装置 (特許出願) をご用意しました。試料サイズが小さく、また厚みが薄くできないセラミックス系試料等の測定に適しています。

■対応規格

JIS R1641、IPC-TM650 2.5.5.13

■電界方向

地面と平行に円状、試料面内 (平面) 方向に円状⇒異方性の確認はできない ※電気的に使用する材料に異方性があるかどうかは重要な開発事項であるため、延伸方向や押出成形方向に異方性が出やすい樹脂や異方性のあるフィラーを充填した樹脂組成物などを測定される場合には、上記をご考慮ください。

■試料の大きさ

・概ね比誘電率x厚さが5mm以下のシート ・10GHz~ 25GHz: 50mmx50mm程度 ・25GHz~40GHz: 40mmx40mm (理想) ※30mm~40mmx30mm以上 (最小サイズ)

  • シリーズ

    比誘電率/誘電正接測定システム TE空洞共振器

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比誘電率/誘電正接測定システム TE空洞共振器 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定周波数 測定範囲 測定精度
比誘電率/誘電正接測定システム TE空洞共振器-品番-DPS19

DPS19

要見積もり

10GHz, 20GHz, 28GHz, 40GHz

・比誘電率 (Dk) : 1~20
・誘電正接 (Df) : 0.05~0.0001 ※ただし試料厚による

・比誘電率 (Dk) : ±1% ※ただし VNA の精度に依存する
・誘電正接 (Df) : ±5% ※ただし VNA の精度に依存する

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

キーコム株式会社は、高周波技術関連製品およびシステムの設計・製作・測定を手掛ける専業メーカーです。 1992年に創業し、300GHz~1Hzまで、超高周波・ミリ波・マイクロ波・超低周波分野の測定装置開発・測定経験・高周...

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  • 本社所在地: 東京都
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