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フライングプローブテスタ APT-1600FD-SL-APT-1600FD-SL
フライングプローブテスタ APT-1600FD-SL-タカヤ株式会社

フライングプローブテスタ APT-1600FD-SL
タカヤ株式会社



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この製品について

■進化し続ける検査能力

超高速検査で実装基板のあらゆる不良を確実に検出するフライングプローブ式のインサーキットテスタです。タカヤ株式会社は、1987年にこの『フライングプローブテスタ』を開発/販売開始しました。 そして、現在でも業界トップクラスのシェアを誇る実装基板検査機業界の草分け的存在です。高速・高精度検査はもちろん、両面検査・大型重量基板対応・特殊カスタムなど、 あらゆる検査ニーズに対応できる豊富なラインアップを取りそろえております。これからも、実装基板検査の多様化と、さらなる高速化にお応えする製品を開発し続けてまいります。

■APT-1600FDの強み

1. 上下両側同時検査 ・上側 4ヘッド &6フライングプローブ ・下側 2ヘッド &4フライングプローブ 上下のフライングプローブを同時使用した最大6プローブのコンビネーション検査で、基板の上面・下面の両ポイントにコンタクトが必要な部品の検査を可能としました。また、両面実装基板の検査では反転工程が不要となり、検査時間を大幅に短縮します。 2. レーザー変位測定システム レーザー光で基板面ならびに部品上面の高さを測定し、インサーキットテストでは検出できない実装不良を確実に発見します。また、基板の反り量を読み取り、プローブのコンタクト位置を自動補正する機能も有します。 3. 上下面AOI (画像検査) デュアルカメラを使ったAOI機能を標準装備しており、インサーキットテストでは検出できないバイパスコンデンサの欠品など、実装不良を光学的に検査します。 4. プローブコンタクト制御 プローブの降下スピードは19段階でコントロールが可能です。FPCなど繊細なワークにおいては、プローブの高速動作は維持しつつ基板コンタクトの瞬間に減速させ、衝撃を最小限に抑えます。また、ハンダ表面にフラックス被膜がある場合はハードコンタクトを行い、検査の信頼性を向上させるなど、あらゆる基板において安定した検査を実現します。 5. スマートファクトリーに対応 お客様の工場内ネットワークとの連結を容易に行える、複数のインターフェースをご用意しています。迅速かつ詳細なトレーサビリティの確立、検査状況の可視化、問題への迅速な対応など、生産活動におけるQCD (品質、コスト、納期) の継続的改善に貢献します。

  • シリーズ

    フライングプローブテスタ APT-1600FD-SL

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フライングプローブテスタ APT-1600FD-SL 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 全体寸法・重さ 検査可能基板寸法 検査可能基板厚 搭載部品高さ (max.) 基板クランプスペース 基板重量 (max.) DC電圧 / 電流 AC電圧 周波数 抵抗 キャパシタンス インダクタンス インピーダンス / 位相角 トランス PN接合VF測定 ツェナーダイオード電圧 オープンチェック ショートチェック ダイオード / トランジスタ / FET リレー / フォトカプラー / スイッチ素子
フライングプローブテスタ APT-1600FD-SL-品番-APT-1600FD-SL

APT-1600FD-SL

要見積もり

W1,520×D1,620×H1,400mm 1,600kg

L50 × D50mm - L635 × D610mm

0.6 - 5.0mm

上面 / 下面 60mm

上面:奥 / 手前の端面から3mm
下面:奥 / 手前の端面から3mm

8kg

±125V / ±1A (オプション:±2Aまで)

150mV~75Vrms,f=10Hz~ 0.5MHz

1Hz~20MHz/2V~20Vp-p

5mΩ~50MΩ *カスタム2mΩ~

0.5pF~200mF

0.5μH~500H

2.5Ω~3.3MΩ / ±90°

インダクタンス、巻線比、位相差

0.1V~40V

0.1V~40V (オプション:max.80Vまで)

閾値5Ω ~ 50MΩで設定可能 (標準100Ω以上)

閾値1Ω ~ 500KΩで設定可能 (標準10Ω以下)

PN接合VF測定、ONテスト、ゲイン、特性

ONテスト

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

タカヤ株式会社は岡山県井原市に本社を置く電子機器メーカーである。 1984年に岡山県井原市で織物業を創業し、1917年に「高屋織物合資会社」として設立した。 1966年に電子機器部を新設し、トランジスタラジオの組立てを...

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  • 本社所在地: 岡山県
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