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高出力レーザ用FFP計測装置-高出力レーザ用FFP計測装置
高出力レーザ用FFP計測装置-シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用FFP計測装置
シナジーオプトシステムズ株式会社

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この製品について

■概要

高出力レーザ用FFP (ファーフィールドパターン) 計測装置は、出力～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布 (ファーフィールドパターン) を高精度で迅速に測定する装置です。光学系は、専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFを使用します。サンプルより出射された光束は、2段のビームサンプラーにより減光、さらに後段の減光フィルタにより減光され、適正な光量に減衰されたFFP像を画像検出器に結像、画像処理解析を行います。 2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布 (FFP:ファーフィールドパターン) をリアルタイムで取得・測定可能です。計測対象光束径を約3mmφまで拡大、大発光面積のレーザ素子や大口径ファイバ等の半導体レーザ等のFFP計測・出射N.A.計測に対応できます。 当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、エンサークルドアンギュラーフラックス解析等の光パワー分布解析にも応用可能です。 特長

■高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFを使用。

・2段ビームサンプラーを搭載。出力～10Wクラス高出力レーザを計測適正光量まで減衰。 ・ハイパワー計測用f-θレンズ光学系＋画像処理解析方式。測定も迅速で調整も容易。 ・測定対象光束径約3mmφ。広い発光面積のサンプルをカバーするワイドエリア設計。 ・ワーキングディスタンス約4mmの長作動距離設計。

■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュールAP013

・オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。 ・光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエアOptimetrics BA Standard。当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。光パワー分布解析にも対応。 主な応用

■高出力レーザ・高出力レーザモジュールの放射角度分布 (FFP) 計測・解析

・LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発 ・レーザプロジェクタや照明用途光モジュールの開発 ・生体認証用レーザモジュールの開発

  • シリーズ

    高出力レーザ用FFP計測装置

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高出力レーザ用FFP計測装置 品番1件

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高出力レーザ用FFP計測装置-品番-高出力レーザ用FFP計測装置

高出力レーザ用FFP計測装置

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使用用途

#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法 反射法 透過法

機能

三次元測定 高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 20,000

データ保存 件

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シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 本社所在地: 静岡県

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