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光ビーム解析モジュール AP013-AP013
光ビーム解析モジュール AP013-シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム解析モジュール AP013
シナジーオプトシステムズ株式会社



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この製品について

■概要

光ビーム解析モジュールAP013は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を目的とした画像処理・解析用モジュールです。当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器 ISAシリーズとの組合せにより、可視~近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能です。 光ビーム解析モジュールは、解析装置 (PC) 本体、光ビーム計測・解析ソフトウエアOptometrics BA Standard (又はOptpmetrics BA Basic) (ライセンスキー 1ライセンス) 、検出器用ドライバソフトウエア、補正データ、付属ケーブル類 各1式から構成されます。特別な設定作業を必要とせず、検出器を接続するだけで直ちに使用可能です。 さらに、最新バージョン (Optometrics BA Standard ver 3) では、従来のビームプロファイル解析に加え、新たに光パワー分布計測機能 (4σ法、D86) 解析機能が加わりました。各種光学系・検出器の組合せにより、高機能レーザビームプロファイラが構築できます。

■特長

解析装置 (PC本体) ・解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データのセットで直ちに使用可能

■【Optometrics BA Standard】さまざまな光ビームプロファイル計測に対応した高機能光ビーム計測解析ソフトウエア

・光ビームプロファイル計測に必須の光ビームパラメータ計測機能 ・【光パワー分布解析機能】EF (エンサークルドフラックス) /EAF (エンサークルドアンギュラーフラックス) 解析機能 ・【新機能:光パワー分布解析機能】D86幅解析機能 ・【新機能/光パワー分布解析機能】4σ法によるXY軸幅・長短径幅・傾き計測解析機能 ・光強度プロファイル計測のみに機能を限定したOptometrics BA Basicも選択可能。

■主な応用

・画像処理解析方式の高機能レーザビームプロファイラ ・さまざまな発光素子や光デバイス・光モジュールの発光ビームプロファイル計測・NFP計測。半導体レーザやレーザデバイス、各種光ファイバ、各種光導波路、光モジュール、光学モジュール等 ・各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測

  • シリーズ

    光ビーム解析モジュール AP013

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光ビーム解析モジュール AP013 品番1件

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AP013

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使用用途

#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法 反射法 透過法

機能

三次元測定 高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 20,000

データ保存 件

50 - 200 200 - 1,000 1,000 - 10,000

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