光ビームNFP計測装置
シナジーオプトシステムズ株式会社

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■概要光ビームNFP計測装置は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。光学系は当社の高機能NFP計測光学系 (簡易型NFP計測光学系も使用可能) を使用、当社製各種画像検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や光ビームプロファイル計測・解析に使用することができます。

光検出器の選択により、可視域から光通信の1,550nm近赤外波長帯までさまざまなシステム構築が可能です。400~1,700nm帯用高機能レーザビームプロファイラに最適なシステムです。

特長
■高機能NFP計測光学系M-Scope type Sを使用・手動レボルバにより対物レンズ倍率の切替が容易に可能。また、電動レボルバ (オプション) の装着も可能。
・着脱式落射照明ポートと同軸落射照明装置 (オプション) 装着による顕微鏡画像観察が可能。ピント合わせが容易。

■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能・400~1,100nm：高精度CMOS検出器 ISA071, ISA071GL等
・950~1,700nm：InGaAs高感度近赤外検出器 ISA041H2等
・【NEW】400~1,700nm：InGaAs高分解能近赤外検出器 ISA041HRA (SXGA型) /HRVA (VGA型) 

■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013・オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
・光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア　Optimetrics BA Standard
・当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。EF/EAF計測機能にも対応。

■主な応用・400~1,700nm帯用高機能レーザビームプロファイラ
・各種発光素子の発光ビームプロファイル計測 ・NFP計測
・半導体レーザやレーザデバイス、各種光ファイバ、各種光導波路、光モジュール、光学モジュール等
・各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測

型番
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シリーズ
光ビームNFP計測装置

取扱企業
シナジーオプトシステムズ株式会社

カテゴリ

測定機器

光学測定器

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使用用途

#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法反射法透過法

機能

三次元測定高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 20,000

データ保存件

50 - 200 200 - 1,000 1,000 - 10,000

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シナジーオプトシステムズ株式会社

本社所在地: 静岡県

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■高機能NFP計測光学系M-Scope type Sを使用

■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能

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