IC・BGAテスター
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この製品について

■概要・弊社のインサーキットテスター技術を使用した、以下の用途に最適なIC/BGAテスターです。
・半導体製造メーカ一・品質保証部門でIC/LSの不良解析を行う前に、フィールドから戻ってきた不良デバイス (おもに静電破壊) を選別するためのスクリーニング・チェッカーとして。
・半導体取扱企業 (商社・メーカー等) が行う高価なIC/LSIテスターによる受入検査前に、粗悪なデバイスを選別するためのスクリーニング・チェッカーとして。
・半導体センサーデバイスのショート・オープンチェッカーとして。
・定電圧印加電流測定と定電流印加電圧測定の2種類の測定が可能です。しきい値は10ランクの設定です。 (自動測定) 
・測り方はデバイス単体でチェックします。テスト治具も製作可能です。
・ソケットボードの交換で多種のデバイスに対応可能です。
・基準値は良品デバイスからの吸い上げ方式の為、複雑なテストプログラム作成は不要です。
・128ピン/枚のマルチプレクサボードを増設する事で最大2,048ピンまで拡張できます。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
IC・BGAテスター

取扱企業
協立テストシステム株式会社

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IC・BGAテスター品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	測定ポイント	TESTステップ	テストモード	テスト方式	しきい値	カーブトレース機能
	Focus-2005	要見積もり	標準1,024Pin128Pin単位で増設、MAX2,048Pin	無制限 (記憶媒体に依る)	定電圧印加電流測定、定電流印加電圧測定	1対多Pin総当りテスト、指定Pin間測定	O,A,B,C,D,E,F,G,H,Sランク測定 (しきい値は測定により自動設定)	標準装備