最も感度が高く強力なキセノンプラットフォームの特許技術 DXF 200+-DXF 200+

最も感度が高く強力なキセノンプラットフォームの特許技術 DXF 200+
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Discovery Xenon Flash 200+には、特許取得済みの高速キセノンパルスデリバリー™ソース (HSXD) と変形マルチサイドライトチューブ™があります。一緒に、これらの光学要素は、サンプルホルダーの過度の点滅を防ぎながら、比類のないパワーと均一な強度の光パルスをサンプルに提供します。 

TA Instrumentsの高エネルギーキセノン設計のみが、-175℃から900℃の温度範囲で直径25.4mmのサンプルをテストできます。大きなサンプルを使用すると、不均一性に関連するエラーが減少し、分散が不十分な複合材料の代表的な測定が可能になります。 DXFプラットフォームは、R＆D計画と生産管理のために設計されています。

■特徴・高効率の液体窒素冷却システムとソリッドステートPIN検出器を備えた低温システムは、正確かつ安定して温度を制御でき、業界をリードする-175℃に達します。
・簡単に交換できるオートサンプラートレイは、最大12.7mmの直径のサンプルまたは6つの25.4mmの直径のサンプル、およびより多くのサイズと形状のサンプルを保持できます。
・ソフトウェア制御のPINローディングは、サンプルの厚さに関係なく完全な接触を維持するように調整できます。
・特許取得済みの高速キセノンパルス伝送システムは、競合する設計よりも50％高いエネルギーを提供し、厚さや熱伝導率に関係なく、最も広い範囲のサンプルで最高の精度を実現できます。
・さまざまなサンプルトレイは、さまざまなサンプルサイズ (最大25.4 mm) 、形状、および特殊な固定具 (液体、粉末、ラミネート、フィルムなど) に対応して、サンプルテストの柔軟性を最大限に高めます。
・特許取得済みのLightPipe™は、光を最も効率的に収集してコリメートし、放射線をサンプルに均一に透過します。
・最大直径25.4mmのサンプルをテストして、サンプルの準備と処理を容易にし、異種材料の結果を改善することができます。
・薄くて高い熱伝導率の材料の優れた熱拡散率を実現するためのリアルタイムパルスマッピング。

型番
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シリーズ
最も感度が高く強力なキセノンプラットフォームの特許技術 DXF 200+

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最も感度が高く強力なキセノンプラットフォームの特許技術 DXF 200+ 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	フラッシュソース種類	フラッシュソースパルスエネルギー (可変)	フラッシュソースパルス幅	フラッシュソース独自の伝達光学	ファーナスサンプル温度範囲	ファーナス雰囲気	検出熱拡散率範囲	検出熱伝導率範囲	検出データ取得	正確性熱拡散率	正確性熱伝導率	再現性熱拡散率	再現性熱伝導率	サンプル円形	サンプル四角	サンプル最大厚さ	オートサンプラー種類
	DXF 200+	要見積もり	キセノン、ベンチトップ	最大15 ジュールまで可変	400 µs ~ 600 µsec	ライトパイプビームガイド	-175℃ ~ 200℃	空気、不活性ガス、真空 (50 mtorr)	0.01 ~ 1,000 mm2/秒	0.1 ~ 2,000 W/ (m*K)	16 ビット	±2.3%	±4%	±2.0%	±3.5%	直径 8、10、12.7、25.4 mm	長さ 8、10、12.7 mm	10 mm	12ポジションカルーセル