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金属、半導体、絶縁体におけるナノスケールの誘電率や導電率のマッピングが可能となる 走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡 (sMIM)-走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡 (sMIM)
金属、半導体、絶縁体におけるナノスケールの誘電率や導電率のマッピングが可能となる 走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡 (sMIM)-オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

金属、半導体、絶縁体におけるナノスケールの誘電率や導電率のマッピングが可能となる 走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡 (sMIM)
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

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この製品について

sMIM (Scanning Microwave Impedance Microscopy, 走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡) により、金属、半導体、絶縁体におけるナノスケールの誘電率や導電率のマッピングが可能となります (MFP-3D Originを除く全MFP-3D モデルに対応) 。

■特徴

・横方向の分解能が向上 (50 nm以下) ，優れたSN比 (10倍以上) ・競合技術と比べて最大80倍速く、低電力で動作

  • シリーズ

    金属、半導体、絶縁体におけるナノスケールの誘電率や導電率のマッピングが可能となる 走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡 (sMIM)

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金属、半導体、絶縁体におけるナノスケールの誘電率や導電率のマッピングが可能となる 走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡 (sMIM) 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜)
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走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡 (sMIM)

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この商品の取り扱い会社情報

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

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会社概要

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社は科学研究機器、半導体プロセス装置、分析機器の輸入販売・修理・買取を行っている企業です。 1991年にイギリスのオックスフォード・インストゥルメンツの日本法人として設立されま...

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  • 本社所在地: 東京都
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