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金属、半導体、絶縁体におけるナノスケールの誘電率や導電率のマッピングが可能となる 走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡 (sMIM)Metoree経由で見積もり
2025年3月25日にレビュー済み
顧客対応への満足度
初回対応までの時間への満足度
22.17時間
商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) |
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走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡 (sMIM) |
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