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半導体 オープンショートテスター V2048-V2048
半導体 オープンショートテスター V2048-株式会社テストラム

半導体 オープンショートテスター V2048
株式会社テストラム



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この製品について

■高集積多ピンデバイスの、量産を強力サポート。

最大4個の同時テストを行うことができます。リーズナブルな価格設定により、テスタ本体の増設も容易。高い耐故障性と明快なユーザインタフェースで、効率的な量産をお手伝いします。

■特徴

・最大2048ピン (PMU最大128個) ・最大60Aの大電流電源 (HCDPS) を搭載可能。 ・最大4DUT同時測定。 ・JTAG等による設定/情報読み出しに対応するファンクション機能 (最大144ピン) を用意。

  • シリーズ

    半導体 オープンショートテスター V2048

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半導体 オープンショートテスター V2048 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 対応ピン数 同時測定デバイス数 テスト項目 本体外形寸法・重量 テストヘッド外形寸法・重量
半導体 オープンショートテスター V2048-品番-V2048

V2048

要見積もり

最大2,048ピン観 (傷・色むら) 検査

4個 (512ピン/DUT)

簡易ファンクション測定
DCパラメトリック測定 (電圧印加電流測定・電流印加電圧測定)

570W×1,582H×800D (mm) ・200kg

430W×326.4H×580D (mm) ・50kg

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電源 VAC

0 - 100 100 - 150 150 - 250

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