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HF帯量産向けRFIDテスター T8200Shannon-T8200Shannon
HF帯量産向けRFIDテスター T8200Shannon-株式会社テストラム

HF帯量産向けRFIDテスター T8200Shannon
株式会社テストラム

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この製品について

■特長

量産を意識した、ICカード・タグの共振周波数とQ値を測定する検査装置です。 同時測定数は2～32CH、一回の測定に必要な時間は、わずか0.15秒。量産現場で求められる、高いスループットとコストパフォーマンスを実現し、プレラミインレイやRFIDアンテナなどの面付けシート製品やロール製品の全数検査に最適です。さらに品質の安定したICカード・タグの出荷をサポートします。 検査ヘッドは測定対象のコイルデザインに合わせて特注製作のリクエストにも対応します。コンパクト設計で、チップ実装機など生産装置への組込みも可能です。生産ラインに組み込む際には、1CHから32CHのPASS/FAIL判定をI/Oにて出力できます。

■基本機能

・検査項目-共振周波数、減衰量、Q値 ・周波数設定範囲数-1MHz～100MHz ・同時測定数-2CH～32CH (2CH/検査ボード) ・検査時間-150msec (測定ポイント数=500、平均化数4回)

  • シリーズ

    HF帯量産向けRFIDテスター T8200Shannon

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HF帯量産向けRFIDテスター T8200Shannon 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) システム構成 システム要件
HF帯量産向けRFIDテスター T8200Shannon-品番-T8200Shannon

T8200Shannon

要見積もり

本体 / 検査ヘッド / 同軸ケーブル / アプリケーションソフト / 5V電源

OS - Windows10,11
I/F - USB2.0以上

この商品の取り扱い会社情報

株式会社テストラム

  • 本社所在地: 大阪府
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