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Photomask Substrates-Photomask Substrates
Photomask Substrates-クアーズテック合同会社

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この製品について

■用途

リソグラフィプロセス用フォトマスク

■材料

高純度合成石英ガラス

■機能・特徴

・最先端のArFをはじめリソグラフィ用基板として世界で最も多く採用 ・高い紫外線透過率 ・高いArFレーザー耐光性 ・低複屈折率

  • シリーズ

    Photomask Substrates

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Photomask Substrates 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) かさ密度 g/cm3 曲げ強さ 室温 MPa 曲げ強さ 高温 MPa ヤング率 GPa ポアソン比 ビッカース硬度 GPa 線膨張係数 x10^-6/K 熱伝導度 室温 W/ (m・K) 熱伝導度 高温 W/ (m・K) 耐熱衝撃性⊿Tc ℃ 最高使用温度 ℃ 体積抵抗率 (室温) Ω・cm 比誘電率 誘電正接
Photomask Substrates-品番-Photomask Substrates

Photomask Substrates

要見積もり

2.2

105

149 (900℃)

72

0.17

9.7

0.65 (室温~1,000℃)

1.4

3 (900℃)
(t2.0 mm)

>1,000

1,000

10^18

3.58 (1MHz)

1.5x10^-4 (1 MHz)

この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

クアーズテックグループは、110年以上にわたり、常に移り変わるテクニカルセラミックスの最先端を切り開いてきました。またその事業領域もエネルギーや半導体、医療のみならず、機械、食品・農業、輸送、航空宇宙・防衛分野など多岐に...

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  • 本社所在地: 東京都
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