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陽電子消滅寿命測定/ドップラー拡がり測定装置 DPALMS-LCA-DPALMS-LCA
陽電子消滅寿命測定/ドップラー拡がり測定装置 DPALMS-LCA-株式会社テクノエーピー

陽電子消滅寿命測定/ドップラー拡がり測定装置 DPALMS-LCA
株式会社テクノエーピー

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この製品について

分子レベルのナノスケール空間構造を解析できる陽電子消滅法の測定に必要な計測・電源機器が一つになりました。寿命測定 (Lifetime) では2台のBaF2シンチレータからの高速パルス信号を3GspsのADCボードで取り込み寿命時間を算出。コインシデンスドップラー拡がり測定 (CDB) では2台のGe半導体検出器からコインシデンスを取り波高値から2次元ヒストグラムを生成。さらにこれらの機器の組み合わせにより寿命と運動量の相関をとるAMOC測定も実現しました。

■用途

LIFETIMEは2台のBaF2シンチレーション検出器からの高速パルス信号を3Gspsのモジュールで取り込み算出。CDBでは2台のゲルマニウム半導体検出器からコインシデンスを取り、それぞれの波高値から2次元ヒストグラムを生成。さらにこれらの機器の組み合わせにより寿命と運動量の相関をとるAMOCの計測も可能。

■検出器

BaF2シンチレーション検出器 (x2) :PALS、BaF2シンチレーション検出器 (x2) + HPGe半導体検出器 (x2) :CDB&AMOC

■概要

分子レベルのナノスケール空間構造を解析できる陽電子消滅法の測定に必要な計測・電源機器を一体化。コンピュータにインストールされた付属の専用アプリケーションからネットワーク経由で各モジュールへの設定とデータの読み込みを行います。 特長

■3つの計測モードに対応可能なシステム

1.陽電子消滅寿命測定 (LIFETIME) 2.陽電子消滅同時計数ドップラー広がり測定 (CDB) 3.陽電子消滅寿命-運動量相関測定 (AMOC)

■構成品

APV8702、APV8002C、APV3304G、APV4004、APV9007、XBF110及びGe半導体検出器

  • シリーズ

    陽電子消滅寿命測定/ドップラー拡がり測定装置 DPALMS-LCA

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陽電子消滅寿命測定/ドップラー拡がり測定装置 DPALMS-LCA 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) ADC 時間分解能 エネルギー分解能 測定時間レンジ 寿命測定 高圧電源 通信I/F 寸法・重量 アプリケーション 機能
陽電子消滅寿命測定/ドップラー拡がり測定装置 DPALMS-LCA-品番-DPALMS-LCA

DPALMS-LCA

要見積もり

2CH 3Gsps 8bit (寿命測定・AMOC測定用)
2CH 100Msps 14bit (ドップラー拡がり測定・AMOC測定用)

< 180ps *検出器による

1.69keV (1.33MeV@60Co)

<1,100ns (8,192ch) ※長寿命測定可

標準物質ステンレス鋼106.2±2.4 ps 陽電子寿命
標準物質石英ガラス1.62±0.05 ns o-Ps寿命

2CH: +5,000V / CH (Ge半導体検出器用) *プリアンプ電源4系統
2CH: -4,000V / CH (光電子増倍管用)

イーサネット, TCP/IP

170 (W) x320 (H) x400 (D) mm, 約8,430g

データ計測制御用ソフトウェア

1.寿命測定
2.シングルスペクトル測定、ドップラー拡がり測定
3.AMOC測定

この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

株式会社テクノエーピーは2000年に設立された、放射線計測機器・電子応用機器の開発・製造を行うメーカーです。 自社製品の開発だけでなく、アナログ・デジタル回路の設計・ソフトウェア製作、量産化、OEM供給といった受託...

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  • 本社所在地: 茨城県
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