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シリコンドリフト検出器 Silicon Drift Detector (SDD) システム XSDD50-04GR-SYS
株式会社テクノエーピー

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この製品について

最新のSDDを4素子採用し、高計数率と高エネルギー分解能を実現しました。APU504XDCは高計数率モードと高分解能モードを選択でき、柔軟な計測が可能となっております。

■シリコンドリフト検出器 XSDD50-04GR

・全有感面積:188 mm2 (Collimated to 47 mm2×4素子) ・全素子面積:260 mm2 (65 mm2×4素子)

■カスタマイズ可能

・フランジ (ICF114) ・筒の長さ200mm (デフォルト) *改造は別途費用が発生いたします。

■グラフェン窓の主な特徴

・可視光による影響がないため暗所、暗幕不要 ・ヒートシンク温度80度まで常に高性能を維持 ・安定した真空度で10年以上の動作が可能 ・ポリマー窓と同等以上の透過率

■高計数信号処理モジュール APU504XDC

100 Msps, 16-bi

■検出器用電源 APU3900

-200V, ±5V, +3.3V

■4素子タイプ

・窓材:グラフェン ・全素子面積260mm2、有効面積200mm2 ・多素子化と最適DSP処理により高計数、高感度を実現 ・筒長さ:200mm (デフォルト) *カスタマイズの場合別途費用が発生いたします。

  • シリーズ

    シリコンドリフト検出器 Silicon Drift Detector (SDD) システム XSDD50-04GR-SYS

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シリコンドリフト検出器 Silicon Drift Detector (SDD) システム XSDD50-04GR-SYS 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) スループット 計測モード エネルギー分解能 (typ.) 通信 付属 オプション

XSDD50-04GR-SYS

要見積もり

最大 150 kcps:2 us
最大 1,000 kcps:0.15 us

ヒストグラム、リスト、
波形、ROI-SCA

126 eV @5.9 keV MnKα、1usPT時
1,000 kcps OCR@高計数設定時

ギガビットイーサネット (TCP/IP)

データ収集アプリ、取扱説明書
コマンドマニュアル、サンプルプログラム

Z軸上下機構、UHVバルブ等

この商品の取り扱い会社情報

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17.9時間

会社概要

株式会社テクノエーピーは2000年に設立された、放射線計測機器・電子応用機器の開発・製造を行うメーカーです。 自社製品の開発だけでなく、アナログ・デジタル回路の設計・ソフトウェア製作、量産化、OEM供給といった受託...

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  • 本社所在地: 茨城県
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