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短時間で接触型・光学型測定機をチェック 検証・校正システム CMM検証用アーティファクト 四面体-四面体 (接触型向け)
短時間で接触型・光学型測定機をチェック 検証・校正システム CMM検証用アーティファクト 四面体-四面体 (光学型用)
短時間で接触型・光学型測定機をチェック 検証・校正システム CMM検証用アーティファクト 四面体-Innovalia Metrology

短時間で接触型・光学型測定機をチェック 検証・校正システム CMM検証用アーティファクト 四面体
Innovalia Metrology

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この製品について

■概要

Innovalia Metrologyは非常に短時間で接触型・光学型測定機をチェックすることができる1.5mまでの2次元、3次元ボール・アーティファクトを製造しております。

■技術情報

・TETRA-CHECK 400 – 400mm. ・TETRA-CHECK 650 – 650mm. ・TETRA-CHECK 900 – 900mm. ・TETRA-CHECK 1,500 – 1,500mm.

  • シリーズ

    短時間で接触型・光学型測定機をチェック 検証・校正システム CMM検証用アーティファクト 四面体

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短時間で接触型・光学型測定機をチェック 検証・校正システム CMM検証用アーティファクト 四面体 品番2件

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Innovalia Metrology

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  • 本社所在地: スペイン

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