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QFN・SON用テストソケット QFN・SON BeeContacts B4-L3.85-BeeContacts QFN・SON B4-L3.85
QFN・SON用テストソケット QFN・SON BeeContacts B4-L3.85-株式会社日本マイクロニクス

QFN・SON用テストソケット QFN・SON BeeContacts B4-L3.85
株式会社日本マイクロニクス



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この製品について

■特長

・パッドへの多点接触により、高い接触安定性を実現 ・ピンの長寿命化、クリーニング頻度の低減により、 生産ラインへの歩留り向上に貢献

  • シリーズ

    QFN・SON用テストソケット QFN・SON BeeContacts B4-L3.85

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QFN・SON用テストソケット QFN・SON BeeContacts B4-L3.85 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) PKG Type Pad Pitch Pad Material Frequency Current Temperature
QFN・SON用テストソケット QFN・SON BeeContacts B4-L3.85-品番-BeeContacts QFN・SON B4-L3.85

BeeContacts QFN・SON B4-L3.85

要見積もり

QFN・SON

>0.4mm

Sn・NiPd

~11GHz

2.5A

-40℃~125℃

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

株式会社日本マイクロニクスは、東京都武蔵野市に本社を置く半導体計測器具、半導体・LCD検査機器等の開発・製造・販売を主要な事業とする企業である。 1970年に東京都目黒区に「トーワ電気株式会社」を設立、1975年に現在の...

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  • 本社所在地: 東京都

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