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反射率測定装置 MSP-100-MSP-100
反射率測定装置 MSP-100-株式会社渋谷光学

反射率測定装置 MSP-100
株式会社渋谷光学



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この製品について

■微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定をかつてない低コストで実現

・特殊ハーフミラー (特許取得済) の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。 (薄板0.2mmの反射率測定が可能:×20倍対物レンズ使用時) ・レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。 (試料面に微小スポット (φ50μm) を結ぶ) ・低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。 (独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、16bit A/Dコンバータ内蔵、USB2.0インターフェース高速演算でスピーディな測定を実現) ・色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。 ・Microsoft Excel (R) 形式でのデータ保存が可能です。 ・単層膜を非接触、非破壊で測定ができます。 ・同一の画面上に複数の測定結果を表示機能付きです。測定結果の比較が容易になります。

  • シリーズ

    反射率測定装置 MSP-100

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反射率測定装置 MSP-100 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定波長 測定再現性 試料側N.A. 試料の測定範囲 試料の曲率半径 表示分解能 測定時間 外形寸法 使用温度範囲 使用湿度
反射率測定装置 MSP-100-品番-MSP-100

MSP-100

要見積もり

380~1,050nm

±0.2% (380~450nm)
±0.02% (451~950nm)
±0.2% (951~1,050nm)

N.A. 0.12 (10×対物レンズ使用時)

φ50μm (10×対物レンズ使用時)

-1R~-∞、+1R~∞

1nm

数秒~十数秒 (サンプリング時間により異なる)

(W) 230× (H) 560× (D) 460mm (本体のみ)

18~28℃

60%以下 (結露なきこと)

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

株式会社渋谷光学は1963年に設立された、レンズやガラススケール、キャリブレーションプレート等の光学部品と、顕微鏡やミクロメーター、測定器等の理科学機器の製造・販売を行う企業です。 自社製品の製造の他、特注品・試作...

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  • 本社所在地: 埼玉県
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