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光学部品 テストチャート 解像度チャート-IEEE-30P
光学部品 テストチャート 解像度チャート-株式会社渋谷光学

光学部品 テストチャート 解像度チャート
株式会社渋谷光学



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この製品について

IEEEのSTD208-1995に適合したテストチャートで各種光学機器の性能評価に活用されます。渋谷光学の解像度チャートは温度変化による変質に強い合成石英を使用しております。お客様の用途に合わせポジタイプとネガタイプを標準品として取り揃えました。特注のサイズやパターンも製作が可能です。

  • シリーズ

    光学部品 テストチャート 解像度チャート

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光学部品 テストチャート 解像度チャート 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 材質 タイプ 印刷精度 寸法
光学部品 テストチャート 解像度チャート-品番-IEEE-30P

IEEE-30P

要見積もり

合成石英

ポジタイプ

±0.001mm

48×40mm (厚み1.5mm)

この商品の取り扱い会社情報

会社概要

株式会社渋谷光学は1963年に設立された、レンズやガラススケール、キャリブレーションプレート等の光学部品と、顕微鏡やミクロメーター、測定器等の理科学機器の製造・販売を行う企業です。 自社製品の製造の他、特注品・試作...

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  • 本社所在地: 埼玉県

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