ATEインテグレーション 6TL
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この製品について

JTAGテスト/バウンダリ スキャンと6TL社の機能テスト装置 (FTE) ブランドの統合により、ボードとシステムのテスト要件の大部分に対応できる両方の長所を備えたソリューションが提供されます。バウンダリスキャンと機能テストは補完的なテスト方法であるため、この組み合わせにより、全体的なコストが最小になり、予想される障害タイプを最大限にカバーする最適な戦略が得られることがよくあります。

YAV9JTAGカードの組み込みJTAGコントローラー機能を使用すると、基本的なアプリケーションのコストとリソースのオーバーヘッドも削減されます。

テストおよびインシステムプログラミングアプリケーションは、JTAG Technologies社の開発ツール (JTAG ProVision または Classic) で生成され、6TL社のテスト環境に簡単にインポートできます。

■利点・JTAGバウンダリスキャン テスト/プログラミングと 6TL YAV モジュール機能のコスト効率の高い統合
・YAV9JTAGバウンダリスキャンコントローラカードおよびYAV9JTAH「DIOS」モジュールをサポート
・バウンダリスキャンと機能テストのための単一の製造フェーズ
・デジタルおよびミックスドシグナル設計のテストカバレッジを大幅に強化します。
・包括的なJTAGベースのインシステムプログラミング機能とプロセッサコントローラー テストオプションを追加
・既存の設備やプログラムへの改造が簡単

■アプリケーションJTAGは伝統的に、ICの内部から外部まで実行される構造型テストであると考えられてきました。これは、JTAGテスト/バウンダリスキャン/IEEE 1149.x 互換デバイス内に組み込まれたテストロジックの存在によって可能になります。適切な、主にデジタルの設計に適用すると、JTAG は単独で完全なテストソリューションを提供できます。

ただし、多くの場合、JTAGテストは機能テストなどに追加、または他の検査方法と組み合わせることで、より完全なテストソリューションが得られます。