ATEインテグレーション TERADYNE (テラダイン)-TERADYNE (テラダイン)

ATEインテグレーション TERADYNE (テラダイン)
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この製品について

JTAG Technologies社のバウンダリスキャンアプリケーションをTeradyne社のテストステーションおよびGR228xと統合したいユーザーには、2つのオプションがあります。1つ目はTeradyne社独自のディープシリアルメモリ (DSM) カードをバウンダリスキャンインターフェイス/コントローラーとして使用し、もう1つのソリューションは標準の JT37×7コントローラーに基づいており、JT2147/と呼ばれる当社のQuadPodの専用バージョンと組み合わせることができます。

CFM、DSM ベースのソリューションを使用すると、ICTピン/ネイルを介した刺激と応答を、バウンダリスキャン駆動およびセンシング機能と組み合わせて、ターゲット上のノードにアクセスできます。

JT37×7ベースのソリューションは、バウンダリスキャンのアクセスによる高速フラッシュまたはPLDプログラミングを必要とするアプリケーションにより適しています。どちらのソリューションも Teradyne製のGUIによって制御され、完全なピン レベルの診断を含むレポートがTeradyneレポートジェネレーターにフィードバックされます。

当社のProVision開発ツールを使用すると、バウンダリスキャンベースのテストパターンを生成できます。このテストパターンは、さらなる処理のためにTeradyneテスト開発ツールに提供されます。

■利点・本番稼働中の1つのGUI (Teradyne製) 
・より高いカバレッジ
・統合レポート
・製造ステップは1つだけ
・障害カバレッジの向上
・簡易治具

■アプリケーション・中量産から大量生産まで
・バウンダリスキャンテスト：インフラ、相互接続、メモリ接続、クラスター
・ (DSM版) ICTニードルアクセスとバウンダリスキャンアクセスを同時に使用した複合テスト
・ (JT3717 または JT3727 バージョン) フラッシュプログラミング
・ (JT37x7 バージョン) PLDプログラミング

仕様
■JT 37×7 バージョン・4タップ
・35Mhz TCK最大
・TAPはターゲットから隔離可能